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Double Pulse Testing for Power Semiconductor Devices with an Oscilloscope and Arbitrary Function Generator

Double Pulse Testing with AFG and Oscilloscope App Note

Double pulse testing is useful for measuring switching parameters and evaluating the dynamic behavior of power semiconductor devices such as MOSFETs and IGBTs. The test can be used to measure energy loss during device turn-on and turn-off, as well as reverse recovery parameters.  This application notes shows how the automated double pulse test setup and analysis on the AFG31000 and 4/5/6 Series MSO combine to greatly reduce test times and achieve faster time to market for next generation power converters.

To learn how to get double pulse testing applications for AFG31000 Series function generators and 4/5/6 Series MSO oscilloscopes, visit Double Pulse Testing.