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피드백
전자전(Electronic Warfare)
전자전(Electronic Warfare)
전자 보호 대책, 위협 분석 및
환경 발생
ECM 기법을 측정하면서 환경을 정확하게 시뮬레이션
텍트로닉스는 군 및 정부 직원이 현장 작업을 하다가 노출된 물리적/전자기적 환경을 정확하게 재현할 통합 측정 도구를 제공하는 데 선두적인 역할을 맡고 있습니다.
요즘에는 기타 이미터(emitter), 잼머(jammer), 간섭(interfere) 요인 등의 전자기 스펙트럼에 포함된 동적 정체 문제를 파악하려면 현장의 환경을 정확히 시뮬레이션하여 전자 보호 시스템을 완전히 테스트할 수 있는 충실도 높은 기기가 필요합니다. 이를 통해 군에서는 실질적인 위협을 감지해서 미연에 방지할 수 있습니다.
물리적 및 전자기 환경 효과를 정확히 복제
실험실 성능이 현장의 성능을 정확히 반영할 수는 없습니다. 이러한 이유로 실험실이나 쳄버에서 진행되는 시스템 개발 테스트 및 기술 개발 과정에 키 퍼포먼스 파라미터를 검증할 수 있도록 파형 시나리오 발생에 대기 및 전자파 효과를 추가해야 하는 것입니다. 텍트로닉스는 높은 충실도의 임의 파형 발생기와 강력한 소프트웨어를 결합함으로써 다중 경로 발생, 높은 펄스 밀도 환경, 비/안개/기타 전자파 효과의 감쇠 제어를 보장합니다.
텍트로닉스는 높은 정밀도로 다음을 복제하는 내구성이 높은 장비를 제공합니다.
- 물리적 위치 효과
- 물리적 대기 효과(비, 안개, 황사)
- 전자파 효과(클러터, 다중 경로)
전자파 환경의 시각적 시뮬레이션 간소화로, 작업 중에 테스트 중인 시스템이 노출될 수 있습니다.
실시간으로 ECM 기술을 검증하기 위한 다중 도메인 가시성
개발 테스트 이벤트 및 쳄버 시간에는 많은 비용이 소요될 수 있습니다. 따라서 초기에 데이터를 올바르게 캡처하는 것이 중요합니다. 실시간 상황 인식 능력으로 테스트 이벤트를 중단하지 않고도 보호 대책 기술을 검증할 수 있으며, 시간 및 주파수 도메인 둘 모두의 기술 변이를 보장하기 위해 고해상도 캡처가 필요합니다.
이러한 모든 작업은 RSA 스펙트럼 분석기를 통해 사용 가능한 정밀 도구로 수행할 수 있습니다. 텍트로닉스의 폼팩터 RSA로 다음 작업도 수행할 수 있습니다.
- 최대한 정밀하게 실물과 똑같은 라디오 신호 재현
- 복잡한 신호 환경 구축
DPX 기술을 사용하면 펄스 매개 변수를 측정하고 데이터를 RAID로 스트리밍하면서 위협 및 ECM 응답을 실시간으로 볼 수 있습니다.
주요 콘텐츠
전자 보호 대책 검증 기술
웹 세미나
이 웨비나에서는 ECM 성능 검증을 위한 접근 방법을 검토합니다. 웨비나를 통해 실시간 스펙트럼 분석을 사용하여 위협 자극의 진정한 RF 신호를 검색하고 ECM 기술을 확인할 수 있습니다. 그리고 시간 도메인 및 주파수 도메인 둘 모두에서 조정된 기술을 동시에 확인하는 방법을 배울 수 있습니다.
고급 레이더 분석
백서
레이더 기술이 빠르게 발전할수록 레이더 신호를 탐지할 매우 전문적이고 혁신적인 전자 제품을 개발하고 제조해야 합니다. 설계 프로세스 동안 불확실성을 줄이고 기밀성을 높여야 합니다. 이 애플리케이션 노트는 최신 레이더 응용 사례를 처리하는 데 필요한 도구를 자세히 설명합니다.
DPX 기본 사항
팩트 시트
완전 작동 DPX 스펙트럼의 실시간 RF 디스플레이는 이전에는 볼 수 없었던 신호를 표시하므로 즉각적으로 신호를 감지하고 훨씬 더 빠르게 검색 및 진단할 수 있습니다. 이 입문서를 통해 DPX에 대해 자세히 알아보십시오.
복잡한 RF 신호 생성
AWG5200
동급 대비 최고의 샘플링 속도 및 메모리 용량과 함께 뛰어난 신호 충실도를 제공하여 복잡한 RF 베이스밴드 신호 발생 및 정밀한 실험 애플리케이션을 위한 업계 최고의 신호 자극 솔루션을 제공합니다.
- 최대 10GS/s의 샘플링 속도(2배 보간)
- 2, 4, 8채널 구성
- -70dBc의 스퓨리어스 없는 동적 범위
- 16비트 수직 해상도
- 채널당 2G 샘플 파형 메모리
더 높은 정확도 및 충실도로 테스트
AWG70000
혁신적인 테스트 장비는 설계 프로세스에서 테스트의 불확실성을 줄여주고 점점 복잡해지는 설계의 무결성을 확실하게 제공합니다. 업계 최고 수준의 AWG70000 시리즈는 성능, 샘플링 속도, 신호 충실도, 파형 메모리 측면에서 가장 최첨단 기능을 제공하는 장비입니다.
- 최대 50GS/s인 샘플링 속도
- -80dBc의 스퓨리어스 없는 동적 범위
- 10비트 수직 해상도
- 16G 샘플 파형 메모리
실시간으로 ECM 기술 검증
RSA5000 시리즈
고감도의 뛰어난 스위프 속도로 단 22초 만에 -110dBm/Hz의 노이즈 층으로 10GHz 범위의 스위프를 완료할 수 있으며 RSA5000 시리즈를 사용하여 여러 추적, 마커 및 표준 측정을 쉽게 수행할 수 있습니다.
- 2GHz에서 +17dBm 3차 가로채기
- 3GHz에 대해 ±0.3dB 절대 진폭 정확도
- 위상 노이즈: 1GHz에서 –113dBc/Hz, 10MHz 캐리어 주파수에서 –134dBc/Hz(10kHz 오프셋)
- 고해상도 및 낮은 노이즈를 나타내는 고속 스윕: 10kHz RBW에서 1GHz 스윕
- 80dB의 실시간 스퓨리어스 없는 동적 범위(HD 옵션 사용)
복잡한 변조 체계를 쉽게 생성
SourceXpress
신호 손상을 시뮬레이션하여 시스템의 스트레스 테스트를 수행하고 환경적 스트레스를 추가하는 작업은 복제, 처리 또는 교정하기가 어려울 수 있습니다. SourceXpress를 사용하면 복잡한 변조 체계를 쉽게 생성하여 Tx 모듈 및 시스템 성능을 표시할 수 있습니다.
- S-파라미터를 사용하여 Tx 섹션에서 하위 시스템을 모델링할 수 있음
- 임의 파형 발생기 출력의 사전 보상으로 손실 보정
- SourceXpress 스코프 및 SignalVu VSA(최대 70GHz)를 사용하여 Tx 출력을 직접 평가할 수 있음
