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4200A-SCS 파라미터 분석기를 사용한 MOSFET 게이트 전하 측정


소개

파워 MOSFET는 다양한 분야에서 사용되며 고속 스위칭으로 사용할 수 있습니다. 장치의 스위칭 속도는 내부 커패시턴스의 영향을 받으며, 보통 데이터 시트에 Ciss 및 Coss로 명시되어 있는데, 이는 입력 게이트와 드레인 커패시턴스인 Cgs 및 Cgd에서 도출된 것입니다. 게이트 전하(Qgs 및 Qgd)를 사용하면 커패시턴스의 명시 외에 MOSFET의 스위칭 성능도 평가할 수 있습니다.

MOSFET 게이트 전하의 게이트 전하를 측정하는 방법은 JEDEC JESD24-2 표준 "게이트 전하 테스트 방법"에 나와 있습니다. 이 방법에서는 게이트-소스 전압이 시간의 함수로 측정되는 동안 게이트 전류가 강제됩니다. 결과 게이트 전압 파형에서 게이트-소스 전하(Qgs), 게이트-드레인 전하(Qgd), 게이트 전하(Qg)가 도출됩니다.

4200A-SCS 파라미터 분석기는 두 개의 소스 측정 장치(SMU)와 시스템에 포함된 게이트 전하 측정 테스트를 사용해 MOSFET 게이트 전하 측정의 수행을 지원합니다. 이 테스트는 4200A-SCS Clarius+ 소프트웨어 제품군에서 제공되는 광범위한 테스트 라이브러리에 포함된 여러 테스트 중 하나입니다. 이 애플리케이션 노트에서는 4200A-SCS 파라미터 분석기를 사용해 JEDEC 게이트 전하 테스트 방식에 따라 MOSFET 게이트 전하를 측정하는 방법에 대해 설명합니다.

MOSFET 게이트 전하 측정 개요

게이트 전하 방식에서는 고정된 테스트 전류(Ig)가 MOS의 게이트로 강제 주입되고 트랜지스터와 측정된 게이트 소스 전압(Vgs)이 게이트로 유입되는 전하에 대해 도시됩니다. 고정된 전압 바이어스는 드레인 단자로 인가됩니다. 그림 1에서는 파워 MOSFET의 게이트 전압 대 게이트 전하를 보여줍니다.

게이트 전하(Q)는 강제된 게이트 전류 및 시간(Igdt)에서 도출됩니다. 게이트-소스 전하(Qgs)는 그림 1과 같이 전압(Vgs)이 거의 일정한 평탄 구간의 시작점에 도달하기 위해 필요한 전하입니다. 평탄(또는 밀러) 전압(Vpl)은 JEDEC 표준에 따라 dVgs/dt가 최소일 때 게이트-소스 전압으로 정의됩니다. 평탄부(Voltage Plateau)는 트랜지스터가 OFF 상태에서 ON 상태로 스위칭되는 영역입니다. 이 스위칭을 완료하기 위해 필요한 게이트 전하(평탄 영역의 시작에서 끝으로 장치를 전환하는 데 필요한 전하)는 게이트-드레인 전하(Qgd)로 정의되며 밀러 전하로 알려져 있습니다. 게이트 전하(Qg)는 원점에서 게이트 소스 전압(Vgs)이 지정된 최대값(VgsMax)과 동일해지는 지점까지의 전하를 말합니다.

 
파워 MOSFET의 전압 대 게이트 전하를 보여주는 MOSFET 게이트 전하 측정 그래프
그림 1. 파워 MOSFET의 일반 게이트 전압 대 게이트 전하
 

S1은 원점에서 첫 번째 평탄 지점까지의 선분의 기울기입니다. S2는 마지막 평탄 지점에서 지정된 최대 게이트 전압(VgsMax)까지의 선분의 기울기입니다. 기울기는 JESD24-2 표준에 명시된 것처럼 Qgs 및 Qgd를 계산하는 데 사용됩니다.

그림 2에는 일반 게이트 및 드레인 파형이 시간의 함수로 나와 있습니다. 게이트로 전류가 강제 주입되면 Vgs는 임계 전압에 도달할 때까지 증가합니다. 이 점에서 드레인 전류(Id)가 흐르기 시작합니다. 시간 t1에서 Cgs가 충전되면 Id는 일정하게 유지되고 드레인 전압(Vd)은 감소합니다. Vgs는 평탄 영역의 끝에 도달할 때까지 계속 일정하게 유지됩니다. 시간 t2에서 Cgd가 충전되면, 게이트-소스 전압(Vgs)이 지정된 최대 게이트 전압(VgsMax)에 도달할 때까지 다시 증가하기 시작합니다.

 
시간의 함수로 게이트와 드레인 파형을 보여주는 그래프
그림 2. Vgs, Vd, Id 대 MOSFET의 시간
 

4200A-SCS를 사용한 MOSFET 게이트 전하 측정

4200A-SCS는 두 개의 소스 측정 장치(SMU)를 사용해 파워 MOSFET의 게이트 전하를 측정합니다. 그림 3에는 게이트 전하 테스트의 기본 회로도가 나와 있습니다. 한 SMU(SMU1)의 강제 HI 단자를 MOSFET의 게이트 단자에 연결하고 게이트 전류(Ig)를 강제해 시간의 함수로 게이트-소스 전압(Vgs)을 측정합니다. 두 번째 SMU(SMU2)는 고정된 전압(Vds)을 지정된 전류 컴플라이언스 상태(Ib)에서 드레인에 인가합니다. 4200-SMU의 최대 컴플라이언스 전류는 0.1A이고, 4210-SMU의 최대 컴플라이언스 전류는 1A입니다.

게이트 전하를 테스트할 때는 게이트 전압이 증거하고 트랜지스터가 켜집니다. 평탄 영역에서 이러한 전환 중에는 전류가 지정된 컴플라이언스 레벨을 초과하기 때문에 드레인 SMU(SMU2)가 전압 제어에서 전류 제어 모드로 전환됩니다. 소프트웨어는 OFF 상태에서 ON 상태로 전환하는 동안 드레인 전류 과도 특성과 드레인 전압을 반환합니다.

MOSFET의 소스 단자는 4200A-SCS 섀시의 강제 LO 단자나 GNDU에 연결됩니다.

 
두 대의 소스 측정 장치(SMU)를 사용한 MOSFET 게이트 전하 테스트 구성
그림 3. 두 대의 SMU를 사용한 게이트 전하 테스트 구성.
 

MOSFET 게이트 전하 측정을 위한 Clarius+ 소프트웨어 구성

게이트 전하 테스트는 검색창에서 "게이트 전하"라는 문구를 검색하면 테스트 라이브러리와 프로젝트 라이브러리에서 모두 찾을 수 있습니다. 테스트 라이브러리에서 테스트를 찾으면 테스트를 선택해 프로젝트 트리에 추가함으로써 프로젝트를 추가할 수 있습니다. GateCharge 사용자 라이브러리의 gate_charge 사용자 모듈에서 생성되었습니다.

입력 매개변수 입력

테스트 실행 전 Clarius 소프트웨어의 구성창에서 입력 테스트 매개변수를 입력해야 합니다. (그림 4) 입력 매개변수는 장치와 사용하는 소스 측정 장치(SMU)에 따라 달라집니다.

 
Keithley Clarius 소프트웨어의 구성 보기에서 MOSFET 게이트 전하 테스트 설정
그림 A4. 구성 보기의 게이트 전하 테스트.
 

입력 매개변수에 대한 설명은 표1에 나와 있습니다. 먼저 MOSFET의 게이트(gateSMU)와 드레인(drainSMU)에 연결된 SMU 수를 입력합니다. 소스 단자는 항상 GNDU 또는 강제 LO에 연결되어야 합니다.

gateSMU에 의해 게이트로 강제 주입되는 전류의 크기는 gateCurrent(Ig) 매개변수입니다. 드레인 전압(Vds)은 드레인에 인가된 바이어스 전압이며 drainLimitI는 드레인 SMU의 컴플라이언스 전류입니다.

Coffset 매개변수는 오프셋 커패시턴스를 보정하는 데 사용되며 다음 단락에서 설명됩니다.

표 1. gate_charge 사용자 모듈용 입력 매개변수

입력 매개변수 값의 범위 기본값 설명
gateSMU SMU1-SMU9 SMU1 게이트 단자에 연결된 SMU 수
drainSMU SMU1-SMU9 SMU2 드레인 단자에 연결된 SMU 수
소스 GNDU GNDU 소스 단자는 항상 GNDU의 강제 LO 단자에 연결됨
Vds ±200V 10V 드레인 SMU의 드레인 바이어스 전압 크기
drainLimitI 4200-SMU: 0.1A
4210-SMU: 1A
0.1A 드레인 SMU의 전류 컴플라이언스
gateCurrent ±1E-5A 1e-7A 게이트 SMU의 게이트 전류 크기
VgsMax ±200V 10V 게이트 SMU의 최대 전압 레벨
타임아웃 0~300초 60초 시간 초과 전 시간(초)
measDrain 1(예)/0(아니오) 1 반환 측정 드레인 전류
Coffset 0 또는 Ceff 0 개방 회로로 테스트 실행 후 시트에 반환된 Ceff 값을 입력

 

오프셋 커패시턴스 보정

측정 시스템의 케이블 연결 및 연결에 따라 오프셋 커패시턴스는 단일 피코패럿에서 수백 피코패럿 범위가 될 수 있습니다. 이러한 커패시턴스는 개방 회로로 gate_charge 사용자 모듈을 실행하여 오프셋 커패시턴스를 구한 다음 소프트웨어에 오프셋 커패시턴스 값을 입력하여 보정할 수 있습니다. 이러한 단계를 수행하는 방법은 다음과 같습니다.

  1. 오프셋 커패시턴스를 측정합니다. 장치가 SMU에 연결된 것처럼 입력 게이트 전류 등의 테스트 매개변수를 설정합니다. (Ceff 측정을 위해 VgsMax를 증가시킵니다.) 테스트를 실행하기 전 프로브를 들어올리거나 테스트 픽스쳐에서 장치를 제거합니다. 개방 회로로 게이트 전하 테스트를 실행합니다.
  2. 오스셋 커패시턴스를 구합니다. 테스트가 실행되고 나면 측정된 시스템 오프셋 커패시턴스가 계산되어 시트의 Ceff 열에 표시됩니다. Ceff는 최대 게이트 전압, 게이트 전류 및 시간에서 도출됩니다.
    이 단계에서 개방 회로가 측정되기 때문에 테스트가 실행되고 나면 시트에 테스트 상태값 -9 또는 -12가 표시될 수 있습니다. 이는 측정된 장치가 없어 평탄 영역이 없기 때문입니다. 하지만 Ceff 값은 올바르며 구성 보기에서 Coffset으로 입력할 수 있습니다.
  3. 측정된 오프셋 커패시턴스를 입력하고 실행합니다. 구성 보기의 Coffset에 측정된 오프셋 커패시턴스, Ceff를 입력합니다. 기본적으로 Coffset는 0F입니다. 오프셋 커패시턴스에 대한 보상은 다음 판독값에서 이루어집니다.

테스트 실행

입력 매개변수를 입력했으면 화면 상단의 실행을 선택해 테스트를 실행합니다. 테스트가 실행되는 동안 분석 보기에 있는 그래프에 실시간으로 게이트 전하 파형이 업데이트되고 계산된 출력 매개변수가 시트에 표시됩니다.

출력 매개변수 보기

테스트가 완료되면 시트에 여러 매개변수가 반환됩니다. 표 2에는 이러한 매개변수에 대한 설명이 나와 있습니다.

표 2. gate_charge 사용자 모듈용 출력 매개변수

 
출력 매개변수 설명
gate_charge 테스트 상태값 - 설명은 표3 참조
timeArray 측정된 시간(초)
VgArray 측정된 게이트-소스 전압(볼트)
VgCharge 측정된 게이트 전하(쿨롬)
VdArray 측정된 드레인 전압(볼트)
IdArray 측정된 드레인 전류(암페어)
기울기 게이트 전압의 동적 기울기(dVg/dt)
Ceff 최대 게이트 전압에 대한 게이트 전하 비율
Vpl 평탄 또는 밀러 전압(볼트)
T1 평탄부가 시작되는 타임스탬프(초)
T2 평탄부가 끝나는 타임스탬프(초)
Qgs 원점에서 첫 번째 변곡점, 또는 전압 평탄부까지의 게이트 전하(쿨롬)
Qgd 게이트 전하 곡선의 두 변곡점 사이의 게이트 전하(쿨롬)
Qg 원점에서 VgsMax까지의 게이트 전하(쿨롬)
 

 

결과를 그래프로 나타내기

결과 게이트-소스 전압은 게이트 전하 또는 드레인 전류의 함수로 도시할 수 있으며 드레인 전압은 시간의 함수로 도시할 수 있습니다. 그림 5는 4200A-SCS에서 생성되는 일반적인 게이트 전압 파형입니다.

 
Keithley 4200A-SCS 파라미터 분석기에서 생성된 MOSFET 게이트 전압 파형
그림 5. 4200A-SCS에서 생성된 일반 게이트 전압 파형.
 

Vgs, Vds 외에도 Id 또한 MOSFET 게이트 전하 또는 시간의 함수로 도시할 수 있습니다. 그림 6에서는 Clarius 소프트웨어의 분석 보기 내 그래프에서 세 개의 매개변수가 모두 게이트 전하의 함수로 도시되는 모습을 보여줍니다. 이러한 경우 전압은 Y1 축에 표시되고 전류는 Y2 축에 도시됩니다.

 
시간 경과에 따른 MOSFET 게이트 전하 함수로서의 Vgs, Vds, 및 Id
그림 6. 게이트 전하 함수로서의 Vgs, Vds, Id.
 

테스트 상태 확인하기

테스트가 실행될 때마다 테스트 상태 값이 시트의 첫 번째 열("gate_charge")에 반환됩니다. 표 3에는 "gate_charge" 열에 반환된 테스트 상태 값과 그에 관한 설명 및 참고 사항이 나열되어 있습니다.

표 3. 테스트 상태 값

테스트 상태 설명 참고
1 오류 없음 테스트가 성공적으로 수행되었습니다.
-1 게이트 SMU가 존재하지 않음 올바른 SMU를 지정하십시오.
-2 드레인 SMU가 존재하지 않음 올바른 SMU를 지정하십시오.
-3 VgsMax > 200V 게이트 전압이 200V 미만인지 확인합니다. 게이트 전압을 줄이십시오.
-4 드레인 전류 한계 초과 1A (4210-SMU)
드레인 전류 한도 초과 0.1A(4200-SMU)
드레인 전류가 1A(중간 전력 SMU의 경우 0.1A) 미만인지 확인합니다. 드레인 전류 한도(drainLimitI)를 줄입니다.
-5 전력 한도가 초과됨 전압이 20V보다 크다면 전류는 0.1A 미만이어야 합니다. 드레인 전류 한도(drainLimitI)를 줄이거나 드레인 전압(Vds)을 낮춥니다.
-6 입력 조건의 오류 확인. timeOut을 200초로 제한 timeOut을 200초 미만으로 지정하십시오.
-7 테스트 시간이 지정한 시간을 초과함(timeOut) timeOut을 늘리십시오. 최대 시간은 200초입니다. 장치 충전 속도를 높이려면 gateCurrent를 높이십시오.
-8 반복/측정 횟수 >10,000 게이트 전류(gateCurrent)를 늘립니다.
-9 반복/측정 횟수 <5 게이트 전류(gateCurrent)를 줄입니다. 장치, 테스트 설정을 확인하고, 올바른 SMU인지 확인합니다.
이 오류가 오프셋 보정을 위해 개방 회로를 측정하는 동안 발생했다면 무시해도 됩니다. Ceff 값은 여전히 유효합니다.
-10 원점에서 첫 번째 평탄 지점까지의 지점 수 <10 게이트 전류(gateCurrent)를 줄입니다.
-11 기울기 S1 계산 오류. 상관 계수 <0.9. 원점에서 첫 번째 평탄 지점까지의 곡선이 선형이 아님. 장치와 테스트 설정을 확인합니다.
-12 기울기 S2 계산 오류. 상관 계수 0.9 미만. 마지막 평탄 지점에서 VgsMax까지의 곡선이 선형이 아님. 장치와 테스트 설정을 확인합니다. VgCharge 또는 VdArray가 높게 나타나면 gateCurrent를 낮추고 테스트를 반복하십시오.
이 오류가 오프셋 보정을 위해 개방 회로를 측정하는 동안 발생했다면 무시해도 됩니다. Ceff 값은 여전히 유효합니다.
-13 Vds > 200V 드레인 전압을 낮춥니다.
-14 gateCurrent > 10µA 게이트 전류(Ig)를 줄입니다.

 

결론

Keithley 4200A-SCS 파라미터 분석기를 사용하면 트랜지스터에서 MOSFET 게이트 전하를 쉽게 측정할 수 있습니다. Clarius 소프트웨어는 장치의 게이트와 드레인에 연결된 두 대의 SMU를 사용해 쉽게 게이트 전하 파형을 도출합니다.

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MOSFET 게이트 전하 자주 묻는 질문

MOSFET의 드레인-소스 온 저항이 무엇인가요?

MOSFET 스위칭 장치는 On 또는 Off 상태에서 작동합니다. “On” 상태에서 스위치의 임피던스는 이론적으로 0이며 전류가 얼마나 흐르더라도 스위치에서 전력이 손실되지 않습니다. “Off” 상태에서 스위치의 임피던스는 이론적으로 무한대이며 따라서 전류가 흐르지 않고 전력도 손실되지 않습니다.

드레인-소스 온 저항(RDS(on))은 On 상태일 때 MOSFET의 드레인-소스 사이의 효과적인 저항을 말합니다. 이것은 특정한 게이트-소스 전압(VGS)이 인가되었을 때 발생합니다. 일반적으로 VGS가 늘어나면 온 저항이 감소합니다. 저항이 낮으면 원하지 않는 전력 손실이 줄어 장치의 전력 효율성이 높아지기 때문에 MOSFET 온 저장은 낮을수록 좋습니다.

곡선 트레이서 MOSFET의 드레인-소스 온 저항을 테스트하려면 어떻게 해야 하나요?

정답: 드레인-소스의 온 저항 - RDS(on)

드레인-소스 온 저항이 무엇인가요?

드레인-소스 온 저항(RDS(on))은 특정 게이트-소스 전압(VGS)이 장치를 온 상태로 고정하기 위해 특정 게이트-소스 전압(VGS)를 인가할 때 MOSFET의 드레인과 소스 간의 저항을 말합니다. 게이트-소스 전압(VGS)이 증가하면 온 저항은 일반적으로 감소합니다. 측정은 장치의 옴의 법칙이 적용되는 영역(예: 선형)에서 수행됩니다. 일반적으로는 저항에서 MOSFET이 낮을수록 좋습니다.

이 저항을 추적하는 방법 중 하나는 곡선 트레이서를 사용하는 것입니다. 곡선 트레이서에는 “콜렉터 서플라이”가 드레인을 구동하고 “스텝 제너레이터”가 게이트를 구동합니다. 곡선 트레이서를 사용해 MOSFET의 드레인-소스 온 저항을 테스트하는 방법에 대한 단계별 지침은 다음을 참고하십시오. 오실로스코프나 SMU를 사용해 MOSFET 온 저항을 측정하는 방법에 대한 지침은 “MOSFET의 드레인-소스 온 저항이 무엇인가요?”를 참조하십시오. 자주 묻는 질문(FAQ).

디스플레이에 표시되는 내용:

디스플레이의 가로축에는 VDS가 나타나고 세로축에는 결과 ID가 표시됩니다. 지정된 VDS에서 VDS/ID가 지정된 최대값보다 작거나 같으면 사양이 충족됩니다.

곡선 트레이서에서 MOSFET의 드레인-소스 온 저항을 테스트하는 방법:

1. 제어에서 다음을 설정합니다.

            A: 최대 피크 전압을 지정 VDS보다 높은 가장 낮은 설정으로 지정합니다.

            B: 최대 피크 전력 와트를 (ID x VDS)를 충족하는 가장 낮은 설정으로 지정합니다.

            C: 콜렉터 공급 극성을 N 채널의 경우 (+DC)로, P 채널의 경우 (-DC)로 설정합니다.  

            D: 가로축의 전압/눈금을 가로축의 5번째와 10번째 눈금 사이에 VDS가 표시되도록 설정합니다.

            E: 세로축의 전류/눈금을 세로축의 5번째와 10번째 눈금 사이에 ID가 표시되도록 설정합니다.

            F: 최소(0)까지의 단계 수

            G: 스텝 제너레이터를 전압으로 설정합니다.

            H: 스텝 제너레이터 극성을 순방향 바이어스(N 채널의 경우 +), (P 채널의 경우 -)로 적용합니다.

            I: 스텝/오프셋 증폭을 지정 VGS의 약 50%로 설정합니다.

            J: 펄스를 롱으로 설정합니다.       

            K: 구성을 (기본/스텝 제너레이터, 이미터/공통)으로 설정합니다.

            L: 가변 콜렉터 공급을 최소 %로 설정합니다.(완전히 시계 반대 방향으로)

            M: DotCursor를 ON으로 설정합니다.

2. MOSFET에 전력을 인가합니다.

            A: 왼쪽/오른쪽 스위치를 적절하게 설정합니다.

            B: 가변 콜렉터 공급을 지정한 VDS에 도달할 때까지 천천히 늘립니다.

3. 데이터 시트 사양과 비교합니다.

            A: VDS/ID가 지정한 최소값보다 작거나 같은지 확인합니다.

Tektronix 곡선 트레이서는 생산이 중단된 제품입니다. 훨씬 더 작은 폼 팩터에서 곡선 트레이싱 기능을 지원하기 위해 더 효율적이고 정확한 방법론과 솔루션이 설계되었습니다. 이러한 솔루션 중 하나는 이중 채널 SMU나 두 개의 단일 채널 SMU와 소프트웨어를 사용해 바이어스 전압 스텝 생성과 관련 드레인-소스 전압 강하를 제어하는 것입니다. 자세한 내용을 알고 싶다면 “MOSFET의 드레인-소스 온 저항이 무엇인가요?”를 참조하십시오. 자주 묻는 질문(FAQ).

MOSFET의 상호 컨덕턴스는 어떻게 구하나요?

상호 컨덕턴스는 파워 일렉트로닉스 설계에서 MOSFET 성능을 검증하는 핵심 테스트입니다. 전압 게인이 회로 설계의 핵심 사양일 때 엔지니어가 MOSFET이 제대로 작동하는지 확인하고 최상의 MOSFET을 선택할 수 있게 도와줍니다. 이를 통해 기업은 전력 반도체 장치를 더 빠르게 시장에 출시하는 동시에 현장에서의 고장을 최소화할 수 있습니다.

상호 컨덕턴스는 일정한 드레인-소스 전압이 인가되었을 때 드레인 전류(ID) 대 게이트-소스 전압(VGS)의 비율입니다. 전류 대 전압의 비율은 보통 게인이라고 합니다. 상호 컨덕턴스는 MOSET의 임계 전압(VTH)과 밀접하게 관련된 매우 중요한 매개변수이며 둘 다 게이트 채널의 크기와 연관되어 있습니다. I-V 측정값에서 MOSFET의 상호 컨덕턴스를 도출하는 공식은 다음과 같습니다.

gm = ΔID / ΔVGS

MOSFET의 상호 컨덕턴스는 어떻게 측정하나요?

첫 번째 구성에 나온 접근법을 사용하면 세 대의 소스 측정 장치 (SMU)를 통해 모든 노드를 피드백 제어 전압으로 유지하고 모든 전류를 동시에 측정할 수 있습니다. 각 장치의 채널 연결을 커버할 수 있는 소스 측정 장치(SMU) 채널이 충분하지 않으면 두 번째 구성에 나와 있는 대로 진행할 수 있습니다. 이 구성은 노이즈가 많은 접지 연결에 더 취약하며 긴 케이블을 사용하면 접지 루프가 발생할 수 있다는 점에 유의하십시오. 또한 소스 단자의 전류와 전압은 측정할 수 없으며 계산상의 오류로 이어질 수 있습니다.

상호 컨덕턴스 측정 방법

  1. 일정한 드레인/소스 전압(VDS)을 유지하면서 원하는 범위에 대해 게이트 전압(VGS)을 스윕합니다.
  2. VGS가 증가하는 단계마다 드레인 전류(ID)를 측정합니다.
  3. 현재 ID의 작은 변화량을 VGS의 작은 변화량으로 나누어 상호 컨덕턴스(gm)를 계산합니다.

여기에 표시된 빨간색 연결선은 상호 컨덕턴스(gm)와 상호 컨덕턴스 최대값(Vth)을 나타냅니다.

안전하고 정밀한 고속 MOSFET 장치 특성화 테스트에 대해 자세히 알아보십시오.

곡선 트레이서에서 MOSFET의 제로 게이트 전압 드레인 전류를 테스트하려면 어떻게 해야 하나요?

정답: 제로 게이트 전압 드레인 전류 - IDSS

제로 게이트 전압 드레인 전류가 무엇인가요? 

제로 게이트 전압 드레인 전류는 VGS=0일 때 흐르는 ID입니다.  디플레이션 모드 MOSFET에서는 On 상태 전류이며 인핸스먼트 모드 MOSFET에서는 Off 상태 전류입니다.

I-V 곡선 트레이서에서는 콜렉터 서플라이가 드레인을 구동하고 게이트에서 소스로 단락되어 VGS=0이 됩니다.

디스플레이에 표시되는 내용:

디스플레이의 가로축에는 VDS가 나타나고 세로축에는 결과 ID가 표시됩니다.  VGS=0이고 지정된 VDS가 적용된 상태에서 ID가 지정된 최대값보다 작거나 같을 때 사양이 충족됩니다.

실행 방법:

1. 제어를 설정합니다.

            A: 최대 피크 전압을 지정 VDS보다 높은 가장 낮은 설정으로 지정합니다.

            B: 최대 피크 전력 와트를 (ID x VDS)를 충족하는 가장 낮은 설정으로 지정합니다.

            C: 가로축의 전압/눈금을 가로축의 5번째와 10번째 눈금 사이에 VDS가 표시되도록 설정합니다.

            D: 세로축의 전류/눈금을 세로축의 5번째와 10번째 눈금 사이에 ID가 표시되도록 설정합니다.

            E: 콜렉터 공급 극성을 N 채널의 경우 (+DC)로, P 채널의 경우 (-DC)로 설정합니다.

            F: 구성을 (기본/쇼트, 이미터/공통)으로 설정합니다.

            G: 가변 콜렉터 공급을 최소 %로 설정합니다.(완전히 시계 반대 방향으로)

            H: DotCursor를 ON으로 설정합니다.

2. MOSFET에 전력을 인가합니다.

            A: 왼쪽/오른쪽 스위치를 적절하게 설정합니다.

            B: 가변 콜렉터 공급 %를 지정한 VDS에 도달할 때까지 천천히 늘립니다.

3. 데이터 시트 사양과 비교합니다.

            지정된 VDS, ID가 지정된 최대값보다 작거나 같은지 확인합니다.

곡선 트레이서에서 MOSFET의 게이트-소스 임계 전압을 테스트하려면 어떻게 해야 하나요?

정답: 게이트-소스 임계 전압 - VGS(th)

게이트-소스 임계 전압이 무엇인가요? 

게이트-소스 임계 전압은 지정된 소량의 ID가 흐르는 상태에서 가장 낮은 VGS입니다.  테스트는 VGS = VDS로 실행됩니다.

곡선 트레이서에서 콜렉터 서플라이가 VDS를 제공합니다.  패치 코드를 사용해 VGS=VDS가 되도록 게이트에서 드레인으로 단락을 시킵니다.

디스플레이에 표시되는 내용:

VGS는 가로축에 표시되고 결과 ID는 세로축에 표시됩니다.  사양은 지정된 ID, VGS가 상한값/하한값 사이에 있을 때 충족됩니다.

실행 방법:

1. 제어를 설정합니다.

            A: 최대 피크 전압을 지정 VGS보다 높은 가장 낮은 설정으로 지정합니다.

            B: 최대 피크 전력 와트를 (ID x VDS)를 충족하는 가장 낮은 설정으로 지정합니다.

            C: 가로축의 전압/눈금을 가로축의 5번째와 10번째 눈금 사이에 VGS가 표시되도록 설정합니다.

            D: 세로축의 전류/눈금을 세로축의 5번째와 10번째 눈금 사이에 지정된 ID가 표시되도록 설정합니다.

            E: 콜렉터 공급 극성을 N 채널의 경우 (+DC)로, P 채널의 경우 (-DC)로 설정합니다.

            F: 구성을 (기본/오픈, 이미터/공통)으로 설정합니다.

            G: 가변 콜렉터 공급을 최소 %로 설정합니다.(완전히 시계 반대 방향으로)

            H: DotCursor를 ON으로 설정합니다.

2. 패치 코드를 연결합니다.

            A: 인터페이스 영역의 사용하지 않은 쪽에 있는 베이스 단자 및 콜렉터 단자 사이에 패치 코드를 연결합니다.

            B: 픽스처 영역의 사용하지 않은 쪽에 있는 베이스 센스 단자와 콜렉터 센스 단자 사이에 두 번째 패치 코드를 연결합니다.

3. MOSFET에 전력을 인가합니다.

            A: 왼쪽/오른쪽 스위치를 모두로 설정합니다.

            B: 지정 ID나 최대 임계 전압값 둘 중 하나에 먼저 도달할 때까지 가변 콜렉터 서플라이 %를 천천히 높입니다.

4. 데이터 시트 사양과 비교합니다.

            게이트-소스 임계 전압이 지정된 상한값/하한값 사이에 있는지 확인합니다.

곡선 트레이서에서 MOSFET의 상호 컨덕턴스(gFS)와 순방향 어드미턴스를 테스트하려면 어떻게 해야 하나요?

정답: 상호 컨덕턴스(gFS)와 순방향 어드미턴스

상호 컨덕턴스와 순방향 어드미턴스가 무엇인가요? 

상호 컨덕턴스는 VGS 대비 ID의 비율입니다.  I/V 비율은 일반적으로 게인이라고 합니다.

곡선 트레이서에서 콜렉터 서플라이는 드레인을 구동하고 스텝 제너레이터는 게이트를 구동합니다.

디스플레이에 표시되는 내용:

디스플레이의 가로축에는 VDS가 나타나고 세로축에는 결과 ID가 표시됩니다.  스텝 제너레이터가 게이트 드라이브를 제공하면 게이트 드라이브가 ID의 비례적인 변화를 야기해 곡선이 가로축을 기준으로 위쪽으로 이동합니다.  사양은 지정된 VGS 또는 지정된 ID에서 VGS 대비 ID의 비율이 지정된 최소값보다 크거나 같을 때 충족됩니다.

실행 방법:

1. 제어를 설정합니다.

            A: 최대 피크 전압을 지정 VDS보다 높은 가장 낮은 설정으로 지정합니다.

            B: 피크 전력 와트를 (ID x VDS)를 충족하는 가장 낮은 설정으로 지정합니다.

            C: 콜렉터 공급 극성을 N 채널의 경우 (+DC)로, P 채널의 경우 (-DC)로 설정합니다.

            D: 가로축 전압/눈금을 가로축의 5번째와 10번째 눈금 사이에 지정된 VDS가 표시되도록 설정합니다.

            E: 세로축 전류/눈금을 세로축의 5번째와 10번째 눈금 사이에 지정된 ID가 표시되도록 설정합니다.

            F: 최소(0)까지의 단계 수

            G: 스텝 제너레이터를 전압으로 설정합니다.

            H: 스텝 제너레이터 극성을 순방향 바이어스(N 채널의 경우 +), (P 채널의 경우 -)로 적용합니다.

            I: 스텝/오프셋 증폭을 지정 VDS의 약 1%로 설정합니다.

            J: 펄스를 롱으로 설정합니다.       

            K: 구성을 (기본/스텝 제너레이터, 이미터/공통)으로 설정합니다.

            L: 가변 콜렉터 공급을 최소 %로 설정합니다.(완전히 시계 반대 방향으로)

            M: DotCursor를 ON으로 설정합니다.

2. MOSFET에 전력을 인가합니다.

            A: 왼쪽/오른쪽 스위치를 적절하게 설정합니다.

            B: 가변 콜렉터 공급 %를 지정한 VDS에 도달할 때까지 천천히 늘립니다.

3. 매개변수에 맞게 조절합니다.

            곡선의 수직 변위가 눈에 띄게 나타날 때까지 오프셋 에이드를 길게 누릅니다. VDS를 유지하려면 가변 콜렉터 %를 다시 조절해야 할 수 있습니다.  지정된 작동 지점에 도달할 때까지 스텝 오프셋과 VDS를 번갈아 가며 계속 조절합니다.

4. 상호 컨덕턴스(gFS)를 계산합니다.

             곡선 판독값에서 gFS를 직접 읽습니다.

5. 데이터 시트 사양과 비교합니다.

              해당 값이 지정된 최소값보다 크거나 같은지 확인합니다.

순방향 어드미턴스는 상호 컨덕턴스를 표현하는 대안적인 방식으로, 곡선 트레이서가 상호 컨덕턴스를 측정하도록 (위와 같이) 설정하고, 가로축 전압/눈금을 STEP GEN(스텝 제너레이터)으로 전환하고, SWEEP(스윕)을 사용해 곡선을 완성한 다음 커서를 F선으로 변경해 F선의 기울기를 곡선에 접할 때까지 옮기는 방식으로 측정합니다.

곡선 트레이서에서 MOSFET의 On 상태 드레인 전류를 테스트하려면 어떻게 해야 하나요?

정답: On 상태 드레인 전류 - ID(on)

On 상태 드레인 전류가 무엇인가요?

On 상태 드레인 전류는 지정된 VGS로 장치를 바이어스하여 On 상태로 만드는 ID를 말합니다.  측정은 장치의 옴의 법칙이 적용되는 영역(예: 선형)에서 수행됩니다.

곡선 트레이서에서 콜렉터 서플라이는 드레인을 구동하고 스텝 제너레이터는 게이트를 구동합니다.

디스플레이에 표시되는 내용:

디스플레이의 가로축에는 VDS가 나타나고 세로축에는 결과 ID가 표시됩니다.  사양은 지정된 VDS, ID가 지정된 최소값보다 크거나 같을 때 충족됩니다.

실행 방법:

1. 제어를 설정합니다.

            A: 최대 피크 전압을 지정 VDS보다 높은 가장 낮은 설정으로 지정합니다.

            B: 최대 피크 전력 와트를 (ID x VDS)를 충족하는 가장 낮은 설정으로 지정합니다.

            C: I: 콜렉터 공급 극성을 N 채널의 경우 (+DC)로, P 채널의 경우 (-DC)로 설정합니다.  

            D: 가로축의 전압/눈금을 가로축의 5번째와 10번째 눈금 사이에 VDS가 표시되도록 설정합니다.

            E: 세로축의 전류/눈금을 세로축의 5번째와 10번째 눈금 사이에 ID가 표시되도록 설정합니다.

            F: 최소(0)까지의 단계 수

            G: 스텝 제너레이터를 전압으로 설정합니다.

            H: 스텝 제너레이터 극성을 순방향 바이어스(N 채널의 경우 +), (P 채널의 경우 -)로 적용합니다.

            I: 스텝/오프셋 증폭을 지정 VGS의 약 50%로 설정합니다.

            J: 펄스를 롱으로 설정합니다.       

            K: 구성을 (기본/스텝 제너레이터, 이미터/공통)으로 설정합니다.

            L: 가변 콜렉터 공급을 최소 %로 설정합니다.(완전히 시계 반대 방향으로)

            M: DotCursor를 ON으로 설정합니다.

2. 장치에 전력을 인가합니다.

            A: 왼쪽/오른쪽 스위치를 적절하게 설정합니다.

            B: 가변 콜렉터 공급을 지정한 VDS에 도달할 때까지 천천히 늘립니다.

3. 데이터 시트 사양과 비교합니다.

            A: 해당 ID가 지정된 최소값보다 크거나 같은지 확인합니다.

곡선 트레이서에서 MOSFET의 드레인-소스 항복 전압을 테스트하려면 어떻게 해야 하나요?

정답: 드레인-소스 항복 전압 - V(br)DSS

드레인-소스 항복 전압이 무엇인가요?

드레인-소스 항복 전압은 VGS=0일 때 지정된 값의 ID가 흐르는 VDS입니다.  핀치 오프 채널을 통해 흐르는 역전류이므로 ID는 무릎 모양으로 상승하고, 항복이 발생하면 빠르게 증가합니다.

곡선 트레이서에서는 콜렉터 서플라이가 드레인을 구동하고 게이트에서 소스로 단락되어 VGS=0이 됩니다.

디스플레이에 표시되는 내용:

디스플레이의 가로축에는 VDS가 나타나고 세로축에는 결과 ID가 표시됩니다.  사양은 지정된 ID, VDS가 지정된 최소값보다 크거나 같을 때 충족됩니다.

실행 방법:

1. 제어를 설정합니다.

A: 최대 피크 전압을 지정된 최소값보다 높은 가장 낮은 설정으로 지정합니다.

     VDS

            B: 최대 피크 전력 와트를 (ID x VDS)를 충족하는 가장 낮은 설정으로 지정합니다.

            C: 가로축의 전압/눈금을 가로축의 5번째와 10번째 눈금 사이에 VDS가 표시되도록 설정합니다.

            D: 세로축 전류/눈금을 세로축의 5번째와 10번째 눈금 사이에 ID가 표시되도록 설정합니다.                  

            E: 콜렉터 공급 극성을 +누설(N 채널의 경우), -누설(P 채널의 경우)로 설정합니다.

            F: 구성을 (기본/쇼트, 이미터/공통)으로 설정합니다.

            G: 가변 콜렉터 공급을 최소 %로 설정합니다.(완전히 시계 반대 방향으로)

            H: DotCursor를 ON으로 설정합니다.

2. MOSFET에 전력을 인가합니다.

            A: 왼쪽/오른쪽 스위치를 적절하게 설정합니다.

            B: 가변 콜렉터 공급 %를 지정한 ID에 도달할 때까지 천천히 늘립니다.

3. 데이터 시트 사양과 비교합니다.

            지정된 ID, VDS가 지정된 최소값보다 크거나 같은지 확인합니다.

곡선 트레이서에서 MOSFET의 순방향 게이트 바디 누설 전류를 테스트하려면 어떻게 해야 하나요?

정답: 제로 게이트 전압 드레인 전류 - IDSS

제로 게이트 전압 드레인 전류가 무엇인가요?

제로 게이트 전압 드레인 전류는 VGS=0일 때 흐르는 ID입니다.  디플레이션 모드 MOSFET에서는 온 상태 전류이며 인핸스먼트 모드 MOSFET에서는 Off 상태 전류입니다.

곡선 트레이서에서는 콜렉터 서플라이가 드레인을 구동하고 게이트에서 소스로 단락되어 VGS=0이 됩니다.

디스플레이에 표시되는 내용:

디스플레이의 가로축에는 VDS가 나타나고 세로축에는 결과 ID가 표시됩니다.  VGS=0이고 지정된 VDS가 적용된 상태에서 ID가 지정된 최대값보다 작거나 같을 때 사양이 충족됩니다.

실행 방법:

1. 제어를 설정합니다.

            A: 최대 피크 전압을 지정 VDS보다 높은 가장 낮은 설정으로 지정합니다.

            B: 최대 피크 전력 와트를 (ID x VDS)를 충족하는 가장 낮은 설정으로 지정합니다.

            C: 가로축의 전압/눈금을 가로축의 5번째와 10번째 눈금 사이에 VDS가 표시되도록 설정합니다.

            D: 세로축의 전류/눈금을 세로축의 5번째와 10번째 눈금 사이에 ID가 표시되도록 설정합니다.

            E: 콜렉터 공급 극성을 N 채널의 경우 (+DC)로, P 채널의 경우 (-DC)로 설정합니다.

            F: 구성을 (기본/쇼트, 이미터/공통)으로 설정합니다.

            G: 가변 콜렉터 공급을 최소 %로 설정합니다.(완전히 시계 반대 방향으로)

            H: DotCursor를 ON으로 설정합니다.

2. MOSFET에 전력을 인가합니다.

            A: 왼쪽/오른쪽 스위치를 적절하게 설정합니다.

            B: 가변 콜렉터 공급 %를 지정한 VDS에 도달할 때까지 천천히 늘립니다.

3. 데이터 시트 사양과 비교합니다.

            지정된 VDS, ID가 지정된 최대값보다 작거나 같은지 확인합니다.