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MIPI Interface - PCIe Automated Test

Präzise, wiederholbare Messungen mit PCIe

Seit fast zwei Jahrzehnten ist die Technologie PCI Express® der weit verbreitete Standard für Hochgeschwindigkeitsverbindungen serieller Schnittstellen. Die neuesten PCIe®-Spezifikationen richten sich an datenintensive Märkte wie künstliche Intelligenz/maschinelles Lernen und Hochleistungs-Computing.

Unsere automatisierten Testlösungen mit PCIe reduzieren die Testkomplexität erheblich, indem sie Setup und Kalibrierung handhaben. In Kombination mit rauscharmer Messhardware ermöglichen diese Lösungen schnelle, genaue und wiederholbare Messungen. Als aktives stimmberechtigtes Mitglied der PCI-SIG®-Arbeitsgruppen verfügen wir über Fachwissen für die Validierung von Sendern, Empfängern, Referenztakten und Phasenregelschleifen.

PCI Express, PCIe und PCI-SIG sind eingetragene Marken und/oder Dienstleistungsmarken von PCI-SIG.

Umfassende automatisierte Testlösungen für PCI Express

Branchenführende PCIe Base 6.0 Sender- und Empfänger-Testlösungen

Die kürzlich eingeführte Basisspezifikation PCIe 6.0 verdoppelt die Bandbreite und Energieeffizienz. PCIe 6.0 führt Funktionen wie mehrstufige PAM4-Signalisierung und Light Forward Error Correction (FEC) ein, um diese hohen Datenübertragungsraten (64,0 GT/s) zu unterstützen, und das bei gleichzeitig niedriger Latenz. Die Testlösung von Tektronix für Sender mit PCIe 6.0 ermöglicht Ingenieuren, die neuesten Design- und Validierungsprobleme zu lösen. Intuitive Tools bieten sofort einsatzbereite Unterstützung für Spannungs- und Zeitmessungen wie das Signal-Rausch-Verzerrungsverhältnis (SNDR), unkorrelierte Jitter-Messungen, TP3-/TP2-Kalibrierung und Geräterauschenkompensation, die vom neuesten Entwurf vorgeschrieben sind.

Datenblatt für PCIe Gen 6.0 Tx

Datenblatt für PCIe Gen 6.0 Rx

PCIe Base 6.0 Transmitter and Receiver Test

Testlösungen für Sender mit PCIe Gen 1 bis Gen 5

Unsere Testlösungen für PCIe-Sender gewährleisten Rückwärtskompatibilität, indem sie Validierungs- und Konformitätslösungen für Sender mit PCIe von 2,5 GT/s bis 32,0 GT/s (Gen 1 bis Gen 5) anbieten. Die Unterstützung reicht von der frühen Charakterisierung von Siliziumspannung/Timing bis hin zu Sendermessungen auf Plattformebene und Referenztaktmessungen. Technologieführer von Tektronix stellen sicher, dass diese Lösungen relevant bleiben, indem sie alle Engineering Change Notices (ECNs) einbeziehen und die Workshops zur PCI-SIG-Konformität als genehmigte Lösung unterstützen.

Datenblatt für PCIe Gen 1–5

Broschüre für PCIe Gen 5

PCIe Gen1 to Gen5 Transmitter Test

Testlösungen für Empfänger mit PCIe und Phasenregelschleifen

Die Validierung von Empfängern mit PCIe ist aufgrund der Empfindlichkeit der Signalkalibrierung mit „Stressed Eye“-Augendiagrammen über einen Hochverlustkanal bemerkenswert schwierig. Die Testlösungen von Tektronix für Empfänger mit PCIe sorgen dafür, dass Ihr Design bei der erforderlichen Bitfehlerrate gründlich getestet wurde. Unsere intuitiven Schritt-für-Schritt-Tools bieten Trainingsroutinen zu Verbindungen für den Anritsu Bitfehlerraten-Tester MP1900A, um sicherzustellen, dass Ihr Empfänger genau getestet wird. Automatisierte Tests unterstützen die Kalibrierung mit „Stressed Eye“-Augendiagrammen, die neuesten Konformitätstests zur Entzerrung von Sender-Empfänger-Verbindungen, individuelle Bitfehlerraten-Durchläufe und die Charakterisierung der Jitter-Toleranz. Dieses Framework unterstützt auch einfache Phasenregelschleife-Bandbreitemessungen und Peaking-Messungen für Sender.

Webinar zu Tests für Empfänger mit PCI

Datenblatt für Empfänger mit PCIe

PCI Express Receiver Test Solutions

Compute Express Link (CXL)

Rechenzentrumsarchitekturen müssen zunehmend auf Datenverschiebungs- und Zugriffsanforderungen reagieren und gleichzeitig den Stromverbrauch minimieren, die Effizienz steigern und größere und vielfältigere Anwendungen unterstützen. Aufbauend auf der Stärke der physischen PCIe-Schicht erfüllt CXL diese Anforderungen und ermöglicht Prozessoren, effizient auf dieselben Speicherressourcen zuzugreifen, miteinander zu kommunizieren und auf einer einzigen Architektur zu laufen. Physische Schichtlösungen von Tektronix unterstützen die schnellste CXL-Datenrate (32 GT/s) und verschiedene Formfaktoren, die von dieser neuen Technologie erwartet werden.

Compute Express Link (CXL) Application

Zusätzliche Ressourcen zu PCI Express

PCI Express Gen6
Webinar

Webinar zur PAM4-Signalisierung für PCIe Gen 6

Sehen Sie sich diese Diskussion zur Validierung für PCI Express Gen 6 an. Darin wird eine Kalibrierung mit „Stressed Eye“-Augendiagramm für Empfängertests bei 32 GBaud PAM4 unter Verwendung realer Labordaten demonstriert.
PCIe Gen5 Transmitter Test
Technical Brief

Informationsblatt zur Validierung für PCIe Gen 5

Lesen Sie unser Informationsblatt zu PCIe Gen 5.0, um einen Überblick über die Herausforderungen beim Testen sowie die Tektronix Testlösung für Sender zu erhalten.
PCIe Multi-Lane Testing
Whitepaper

Automatisierte mehrspurige Tests mit PCIe Gen 5

Erfahren Sie, wie Sender- und Empfänger-Messungen (Tx/Rx) mit PCIe Gen 5 über mehrere Differentialspuren für die zu prüfende Verbindung durchgeführt werden.
PCI Express Gen 6.0
Webinar

Webinar zu Tests für Empfänger mit PCI Express Gen 5

Sehen Sie sich das Webinar an, um von David Bouse von Tektronix und Hiroshi Saito von Anritsu Einblicke in die Empfängertests für diesen Standard zu erhalten.
PCI Express Stress Eye
Video

Demo zur Kalibrierung mit „Stressed Eye“-Augendiagramm für PCI Express Gen 5

Sehen Sie sich unsere Demonstration der automatischen Testlösung für Empfänger mit PCIe Gen 5 und der CEM-Testanwendung an.
Skew Measurement
Whitepaper

Whitepaper zum Spur-zu-Spur-Versatz für PCIe

Erfahren Sie, wie Sie den Spur-zu-Spur-Versatz zwischen PCIe-Sendern mit einer maximalen Datenrate von 32 GT/s (Gen 5) genau messen können.