This paper relates mask testing on these models with that ultimate figure of merit, the system BER as measured against a mask. It includes a new method that determines the BER of a mask from an eye diagram without access to the pattern.
Свяжитесь с нами
Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00 CET
Звонок
Позвоните нам
С 9:00 до 17:00 CET
Загрузить
Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:
Обратная связь