SATA 持續擴增為更廣泛的一套消費者層級儲存解決方案。SATA-Express 的進展，及 micro SSD (BGA 晶片級) 儲存，是 SATA 儲存領域中的最新發展，本場演講將說明這些新技術所帶來的獨特測試挑戰。SATA 規格 3.1 版也意味著發送器與收發器振幅量測領域的電氣規格變更，這將對產品的測試方式造成直接而立即的影響。我們將詳細說明這些課題，並對 SATA 的未來與其測試方案，提供更新的藍圖。
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