SATA 持續成長為一個更廣泛的消費級儲存解決方案。SATA-Express 的進展及微型 SSD (BGA 晶片級) 儲存的最新發展是在 SATA 儲存這個領域，本課程將檢視這些新增的獨特測試挑戰。SATA 3.1版規格也需要修改，以符合與發射器和接收器振幅量測相關領域的電氣規格，這對如何進行產品測試將有直接的影響。我們將詳細介紹這些主題，並提供 SATA 未來藍圖及其測試方案的更新資訊。
SAS -3 在 2012 年將部署 12 G 進入企業市場，雖然該規格尚未成形，測試方法和技術的總體趨勢不斷湧現 (這點我們將討論)。太克在 SAS- 3 規格的開發過程中一直是不可或缺的參與者，本課程將探討現今從事實體層驗證和特性分析領域的晶片設計人員，必須建置這台獨特儀器的原因。