本應用摘要介紹了隨著越來越多的設計採用微控制器與其周邊晶片之間的串列通訊連結，設計工程師需要深受肯定的測試解決方案，驗證這些串列匯流排是否如預期正常運作。其中特定量測技術展示了一些讓周邊晶片上的訊號與串列匯流排資料相關聯的方法。
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