Измерение джиттера и анализ синхронизации

Понимание временного джиттера стало неотъемлемой частью проектирования высокоскоростных коммуникационных систем, а также современных стандартов последовательной передачи данных, требующих всестороннего тестирования джиттера на соответствие стандартам. Широкий набор инструментальных средств Tektronix позволяет быстро достичь целей при разработке и добиться соответствия стандартам.

Программное обеспечение DPOJET для анализа джиттера и временных характеристик для осциллографов реального времени: DPOJET помогает инженерам выполнять отладку и определять временные характеристики, а также характеристики джиттера и шума в компьютерных, мобильных устройствах и системах передачи данных.

ПО для анализа осциллограмм TekScope Anywhere ^TM: обеспечивает анализ временных характеристик, глазковых диаграмм и джиттера за пределами лаборатории и возможность простого обмена данными между коллегами в сетевой среде.

Программное обеспечение 80SJNB для анализа джиттера, синхронизации и ПО SDLA Visualizer для стробоскопических осциллографов: универсальное программное обеспечение 80SJNB позволяет задавать фильтры для исключения влияния измерительных цепей, сигнал временной области или S-параметр для встраивания канала. Программное обеспечение 80SJNB позволяет также выполнять анализ синхронизации, шума и тестирования по маске для получения трёхмерного изображения глазковых диаграмм и точной оценки сигналов с частотой 50 ГГц и выше.

Анализ карты погрешностей и выделение компонентов джиттера JMAP для серии BERTScope BSA : в отличие от других систем BERT, в BERTScope используется уникальный анализ JMAP для выделения случайной и детерминированной составляющих джиттера для лучшего понимания ошибок в длинных последовательностях.

Избранные материалы

Информационный бюллетень с фактами о дрожании (джиттере)

Если необходимо быстро измерить дрожание (джиттер) тактового сигнала или тщательно проанализировать проблемы с показателем качества BER, осциллографы Tektronix со встроенным программным обеспечением необходимые инструменты. С их помощью можно быстро решить задачу и достичь указанных в задании значений параметров или удовлетворить требованиям для подтверждения соответствия.

Загрузить

Краткое справочное руководство «Понятие и определение характеристики джиттера тактовой частоты»

Джиттер тактовой частоты — это нежелательный спутник всех электрических систем, которые используют разность потенциалов для представления информации о тактовой частоте. Этот документ посвящен, главным образом, джиттеру в электрических системах.

Загрузить

Структура джиттера

Этот вебинар содержит описание различных категорий и типов джиттера, источников происхождения, взаимосвязей между ними, а также вариантов их использования для аппаратного обеспечения систем диагностики, измерений и отладки. Кроме того, приведено описание вариантов применения различных способов измерения джиттера для вашей конкретной области применения.

Посмотреть сейчас

Title
The Basics of Serial Data Compliance and Validation Measurements Serial Buses - An Established Design Standard High-speed serial bus architectures are the new norm in today's high-performance designs. While parallel bus standards are undergoing some …
Clock Recovery Primer, Part 1 Part 1 of looking at clock recovery from a practical point of view with emphasis on how it affects measurements.
Stressed Eye Primer In addition to an introduction to stressed eye testing, this primer discusses some of the high-speed standards that use it, and how a receiver test using stressed eye is constructed.
Understanding and Characterizing Timing Jitter Primer Timing jitter is the unwelcome companion of all electrical systems that use voltage transitions to represent timing information. This paper focuses primarily on jitter in electrical systems..
Clock Recovery Primer, Part 2 Part 2 of looking at clock recovery from a practical point of view with emphasis on how it affects measurements.
Dual-Dirac+ Scope Histograms and BERTScan Measurements This primer discusses how the dual-Dirac relates to practical measurements that can be made with sampling scopes and BER-based instruments.
Evaluating Stress Components using BER-Based Jitter Measurements This primers describes how jitter measurements can be self-verified using a BER-based Jitter Peak measurement and how to simplify the jitter measurement challenge by using a pattern that does not …
DesignCon 2015 Paper - Statistical Principles and Trends in Mask Testing This paper relates mask testing on these models with that ultimate figure of merit, the system BER as measured against a mask. It includes a new method that determines the BER of a mask from an eye …
Paper presented 8/9/05 at the T11.2 FC-MSQS Ad Hoc Meeting: Impact of Noise on BER Estimation Page content will go here.
Jitter Fact Sheet Regardless whether you need a quick clock jitter measurement, or a thorough analysis of a BER performance problem, Tektronix oscilloscopes and integrated software tools deliver. You can rapidly solve …
Choose the Right Platform for Your Jitter Measurements This document will explain some essential jitter terms, and then go on to discuss jitter measurements and the tools best suited for evaluating and quantifying jitter, when working with serial data …
Bridging the Gap Between BER and Eye Diagrams — A BER Contour Tutorial BER Contour Measurement - What it is, how it is constructed, and why it is a valuable way of viewing parametric performance at gigabit speeds.
Clock Recovery’s Impact on Test and Measurement As clock recovery becomes increasingly common in more systems and test setups, its effects on measurements must be considered. Many outside influences can disturb the relationship between data and …
$name
BERTScope® Bit Error Rate Testers Jitter Map “Under the Hood” Delve into jitter problems in new ways, such as examining Random Jitter on each edge of the data pattern, separating out the jitter caused by transmitter pre-emphasis, and performing jitter …
Six Sigma’ Mask Testing with a BERTScope® Bit Error Rate Tester Six sigma is a form of mask testing that provides for critical insight when mask testing depth specification are important for pass/fail testing or deeper evaluation on high-speed signaling standards …
Characterizing Phase Locked Loops Using Tektronix Real-Time Spectrum Analyzers This application note shows measurements of linear and non-linear effects in both the time and frequency domains using Tektronix Real-Time Spectrum Analyzers.
Ultra-low Jitter Performance with Phase-Reference Module 82A04 & TDS/CSA8200 Sampling Oscilloscope
Characterize Phase-Locked Loop Systems Using Real Time Oscilloscopes Phase-locked loops (PLL) are frequently used in communication applications. For example, they recover the clock from digital data signals (CDR), recover the carrier from satellite transmission …
Controlled Jitter Generation for Jitter Tolerance and Jitter Transfer Testing This application note explores how (and how not) to generate controlled jitter. It also reviews a few cases where you might use a jittered source, such as Jitter Tolerance testing, Jitter Transfer …
Comparing Jitter Using a BERTScope® Bit Error Rate Testing Comparison of DCD and F/2 Jitter.
Anatomy of an Eye Diagram This application note discusses different ways that information from an eye diagram can be sliced to gain more insight. It also discusses some basic ways that transmitters, channels, and receivers …

Title
Jitter Fundamentals View this recorded webinar to get a solid overview of jitter components as well as jitter characterization and visualization. Learn how to control Jitter during system design and improve timing …
How to Address Your Toughest Serial Bus Design Challenges with EDA and Measurement Correlation This Tektronix webinar will teach engineers how to use modeling tools to correlate simulations with high-speed physical layer measurements on Serial Bus Standards using the DPO/MSO70000 Series …
Enabling PAM4 for Emerging Requirements in Data Communications This webinar presents measurement techniques for PAM4 Data Communications and is useful for engineers involved in designing and developing 28G, 56G or 100G components, modules and systems. Find out …
Choosing the Right Platform for Jitter Measurements
Advanced Jitter and Noise Analysis As serial data speeds increase, the need to perform accurate timing and jitter measurements is key to staying current in your design role. Check out this new webinar that covers advances in the …