Current Language
×
Russian (Russia)

Выберите язык:

Включить меню
Current Language
×
Russian (Russia)

Выберите язык:

Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

ТИП ЗАГРУЗКИ
МОДЕЛЬ ИЛИ КЛЮЧЕВОЕ СЛОВО

Обратная связь

Forced Current Quasistatic C-V Methods for SiC Devices


This application note describes the Force-I QSCV technique, explains how to use the tests with Clarius Software V1.14 in the 4200A-SCS Parameter Analyzer, compares this technique to other methods and derives calculations for internal charges on a SiC MOSFET from the forward and reverse C-V sweeps.