Свяжитесь с нами
Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00 CET
Звонок
Позвоните нам
С 9:00 до 17:00 CET
Загрузить
Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:
Обратная связь
Forced Current Quasistatic C-V Methods for SiC Devices
This application note describes the Force-I QSCV technique, explains how to use the tests with Clarius Software V1.14 in the 4200A-SCS Parameter Analyzer, compares this technique to other methods and derives calculations for internal charges on a SiC MOSFET from the forward and reverse C-V sweeps.