LPDDR3和DDR4的電氣驗證測試和除錯出現新的挑戰，超越過渡DRAM架構測試中所發現的問題。瞭解如Visual Triggering這類新工具可以協助除錯複雜的設計，並提供深入分析這類問題的能力。DDR4帶來了僅在1.2V運行時高達3200MT/s的高資料傳輸速率，這是一項新的量測挑戰，緊密的DIMM提供存取訊號的挑戰。瞭解更多有關量測的方法和途徑，以解決獨特的LPDDR3挑戰：在LPDDR3實作的高密度電路板配置中存取和探測訊號，並在突發LPDDR3上進行觸發，以有效除錯和測試配置。
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