Current Language
×
Chinese (Traditional, Taiwan)

選取語言:

切換功能表
Current Language
×
Chinese (Traditional, Taiwan)

選取語言:

與我們聯絡

與 Tek 業務代表即時對談。 上班時間:上午 6:00 - 下午 4:30 (太平洋時間)

致電

請致電

與 Tek 業務代表即時對談。 上班時間:上午 8:30 - 下午 5:30 (太平洋時間)

下載

下載手冊、產品規格表、軟體等等:

下載類型
機型或關鍵字

從 PCI Express 2.0 移轉到 3.0 的成功策略


與 PCI Express 2.0 比較,PCI Express 3.0 在矽技術的實作和測試方法中引入更多的新觀念,其範圍從矽技術的需求,到能在發射器和接收器中,以及在協定層的新編碼方案和連結訓練過程中,執行更複雜的等化方案。從測試的角度來看,裝置必須去嵌入 (de-embedded),以驗證發射器接腳的設計,通道必須嵌入且參考等化器需應用相容性測試,而接收器測試則需要接受認證。所有這些趨勢都表示需要測試解決方案來簡化驗證和除錯的程序,並靈活地適應不斷變化的測試需求。太克示波器、BERTScopes 和邏輯協定分析儀的組合,提供了移轉到 PCI Express3.0 的最佳解決方案。本課程內容涵蓋測試規格的最新發展,以及如何使用一套通用工具管理 PCI Express3.0 相容性、除錯、特性分析的特定實例。