Свяжитесь с нами

Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00, тихоокеанское поясное время.

Звонок

Позвоните нам

Живой чат с представителями Tektronix. С 9:00 до 17:00 CET

Загрузить

Загрузить руководства, технические описания, программное обеспечение и т. д.:

ТИП ЗАГРУЗКИ
МОДЕЛЬ ИЛИ КЛЮЧЕВОЕ СЛОВО

Обратная связь

Поддержка приборов и материалы для загрузки

Добро пожаловать на страницу технической поддержки продуктов Tektronix

Специалисты компании готовы часами говорить с клиентами на технические темы, но мы ценим ваше время. Поэтому мы максимально упростили загрузку руководств, технических описаний и программного обеспечения для выпускаемых приборов и многих продуктов, которые сняты с производства. Просто укажите, каким продуктом вы пользуетесь, и мы предоставим все имеющиеся материалы.

Модель, номер которой вы выбрали, в настоящее время находится в продаже. В наличии есть следующая справочная информация.

  • Руководства Тип руководства Номер по каталогу: Дата выпуска
    SiC and GaN Power Converter Analysis Kit

    The SiC and GaN Switching Power Converter Analysis Kit is the ONLY solution in the market that can accurately characterize most of the critical parameters for optimizing Power Electronics topologies that use ultra-fast, power semiconductor switching …

    Основной потребитель 48W-61538-0
  • Техническая документация Тип документа Дата выпуска
    IsoVu Generation 2 Technology White Paper
    This white paper describes the theory of operation and performance capabilities of an optically isolated measurement system that offers complete galvanic isolation to accurately resolve high bandwidth, high voltage differential signals in the …
    Техническая документация
    Measuring Vgs on Wide Bandgap Semiconductors
    This application note shows a procedure for achieving accurate measurements of gate-to-source voltage on high-side (ungrounded) FETs using the IsoVu measurement system. 
    Примечание по применению
    Isolation Addresses Common Sources of Differential Measurement Error
    A typical measurement system includes an oscilloscope and an oscilloscope probe that provides the connection between the device under test (DUT) and the oscilloscope. Probe selection is critical because probe performance can …
    Краткое техническое описание