Высокоскоростная последовательная передача данных

Стандарты цифровых интерфейсов следующего поколения (последовательный, память, дисплей и т. д.) сдвигают пределы соответствия и инструментов отладки, представляя несколько конструкционных задач высокоскоростных приема и передачи, включая следующие.

Ограниченная доступность сигнала из-за небольших размеров устройств
Поведение шины с новыми схемами энергосбережения
Проверка новых возможностей кодировки и коррекции на сигнальных интерфейсах
Так много проверочных электрических испытаний и так мало времени!

Tektronix предлагает набор автоматических измерений, который сокращает циклы проверки физического уровня и обеспечивает их последовательность. В случае неудовлетворительных результатов проверки на соответствие цикл отладки можно сократить при помощи визуального запуска и декодирования протокола. При этом можно определять джиттер и шум от источников, таких как перекрёстные помехи или другие многоканальные шумы.

СТАНДАРТЫ И ТЕХНОЛОГИИ

Избранные материалы

Ускорение тестирования и отладки устройств с интерфейсами PCIe, SAS, SATA

Чтобы поспевать за новыми скоростями передачи и стандартами хранения данных требуются комплексные решения, которые можно масштабировать для скоростей вплоть до 32 Гбит/с и которые могут обеспечивать функции нового поколения.

Узнайте, как ускорить тестирование и отладку компонентов и устройств.

Подробнее

Стандарты передачи данных в потребительской электронике через разъёмы Type-C

Разъём Type-C обеспечивает совместное использование разных стандартов передачи данных, таких как USBnbsp3.1, DisplayPortnbsp1.4 и Thunderbolt, в устройствах потребительской электроники. Это влечёт за собой новые сложности при разработке, связанные с необходимостью поддержания низкой стоимости разработки и оптимальных электрических характеристик устройств.

Узнайте о способах решения новых проблем.

Подробнее

Электронное руководство «Тестирование высокоскоростных интерфейсных стандартов»

В этом БЕСПЛАТНОМ электронном руководстве описываются проблемы, возникающие при разработке и тестировании устройств со стандартами передачи данных PCIe 4.0, SAS, SuperSpeed USB и DDR4. В документе предоставляется быстрый доступ к техническим ресурсам, помогающим понять проблемы разработок и выбрать правильное решение для тестирования.

Загрузить сейчас

Введите адрес эл. почты:

Введите действительный адрес электронной почты.

Сообщение отправлено.

Сброс

Library

Title
MIPI Debug and Conformance Testing Challenges and Solutions View the slides from the presentation, MIPI High Speed Serial Technologies: Debug & Conformance Testing Challenges and Solutions, created by Tektronix' Ramesh P.E, Principal Engineer and Parthasarathy …
Characterizing an SFP+ Transceiver at the 16G Fibre Channel Rate Study the measurements needed to test an SFP+ transceiver to the 16G Fibre Channel standard, covering both Multi- Mode 850 nm and Single Mode 1310 nm interfaces. Included is a test and …
PCI Express® Transmitter PLL Testing — A Comparison of Methods There are several methods of measuring PLL loop response, based on the type of test instrumentation used. As expected, the various methods trade off test accuracy, test speed (throughput), ease of …
PCIe Gen 5 Tx Tech Brief Get an overview of PCI Express 5.0, testing, the challenges associated with that, and learn about the Tektronix PCIe 5.0 Transmitter Test Solution.
High Speed Interface Standards This e-Guide will help you learn more about design challenges for testing PCIe 4.0, SAS, SuperSpeed USB, and DDR4 standards. Within the pages of the eGuide you will also get quick access to technical …
PCI Express Gen5 Automated Multi-Lane Testing Comprehensive characterization of high-speed links such as PCI Express® require performing measurements of the Transmitter (Tx) and Receiver (Rx) across multiple differential lanes for the link under …
Fast+ Efficient Solutions for DVI Conformance Measurement Challenges Tektronix provides all the DVI measurement solutions you need, ranging from high-bandwidth digital phosphor oscilloscopes (DPO) to probes to application-specific software. Tektronix has solved tough …
Remote Head Acquisition Improves High Speed Serial Measurement As high speed serial data rates continue to increase, the need to maximize margin in measurements increases. Coaxial cables, even good quality ones can impact the measurement margin. Remote heads for …
Probing Tips for High Performance Design and Measurement When a high performance system or component needs to be verified, it often requires attaching an oscilloscope probe. For high speed circuits, the effect of attaching a probe often cannot be ignored …

Title
PCIe Gen5 to Gen6 and Comparison to Electrical Ethernet Watch as David Bouse explains the evolution of PCI Express from Gen5 to Gen6. Then hear from Pavel Zivny as he and David discuss PAM4 signaling in PCIe and how it compares with PAM4 as applied in …
How to Address Your Toughest Serial Bus Design Challenges with EDA and Measurement Correlation This Tektronix webinar will teach engineers how to use modeling tools to correlate simulations with high-speed physical layer measurements on Serial Bus Standards using the DPO/MSO70000 Series …
DDR5 Test Challenges Webinar Learn how you can address five of the thorniest measurement challenges associated with the new DDR5 standard. Get an update on the DDR5 Rx/Tx compliance test and insight in the latest characterization …
PCI Express Gen 4 and Gen 5 Transmitter and Receiver Validation PCI Express I/O bandwidth has doubled every 3 years on average thereby leading to an increased demand for this full duplex high speed bus architecture. As the industry begins deploying the 5.0 …
MIPI C-PHY D-PHY Webinar MIPI alliance standards have been driving the adoption of newer features and higher data rates for emerging mobile applications. Oscilloscope-based protocol layer validation enables isolating …
Demystify MIPI D-PHY and C-PHY Transmitter and Receiver Physical Layer Test During this webinar, you'll gain an understanding of MIPI test challenges for both MIPI high-speed physical layers. You'll also get useful tips and technical insights into characterizing and …
USB4 Webinar View our USB4 Compliance and Characterization Test webinar to learn how you can address the measurement challenges associated with the new USB4 standard.
PCIe Gen6 PAM4 Signaling Prepare for the next PCI Express inflection point by viewing this discussion of validation requirements for PCI Express Gen6. We review newly introduced transmitter measurements including SNDR and …
PCI Express Gen 5 Reference Clock Webinar This webinar presents an overview of reference clock jitter requirements as they have evolved and offers techniques for making these low femtosecond measurements using a real time oscilloscope.
DDR5 Memory Characterization While they promise to provide datacenters with large amounts of data at faster speeds and lower power consumption, DDR5 memory devices have unique test challenges. Learn about characterization and …
PCI Express Gen 5 Update Webinar Cloud-based computing power, storage capacity, and network bandwidth have led to the development of the PCI Express 5.0 specification for 32.0 GT/s. This webinar starts with an overview of 5.0 …