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製品サポートとダウンロード

テクトロニクスの製品サポートへようこそ

当社は、技術的な問題について、時間をかけて丁寧にご説明させていただきます。しかし、お忙しいお客様もおられることでしょう。そのため、現行製品のほか、多くの製造中止の製品についても、マニュアル、データ・シート、ソフトウェア等を用意し、簡単にダウンロードしていだだけるようにしております。ご使用の製品をお知らせ下さい。関連するあらゆるリソースをご提供いたします。

選択された製品型名は現在購入可能です。以下のサポート情報を提供しています。

  • データシート 文書番号: リリースの日付
    アイソレーション型測定システム
    TIVPシリーズIsoVu®測定システムのデータシートには、製品の機能、重要な仕様、および注文情報の概要が記載されています。
    51Z-61655-6
    IsoVu®光アイソレーション型差動プローブ
    テクトロニクスのTIVM/TIVHシリーズIsoVu®光アイソレーション型差動プローブは、全帯域でクラス最高の同相除去性能を実現したガルバニック絶縁測定ソリューションであり、大きなコモンモード電圧が存在する条件でも、最高±2,500Vの広帯域差動信号が正確に分離できます。
    51Z-61217-2
    Isolated Measurement Systems
    The TIVM Series IsoVu® Measurement System datasheet provides an overview of the product's features, important specifications, and ordering information.
    51W-60778-2
  • 技術情報 ドキュメントの種類 リリースの日付
    IsoVu®技術搭載 光アイソレーション型差動プローブ ファクトシート
    IsoVu技術はコモンモード・ノイズに埋もれていた信号を可視化する革新のテクノロジーです。IsoVuは、E/Oセンサを利用して電気信号を光信号に変換することにより、オシロスコープと被測定デバイスを電気的に完全に絶縁します。大きなコモンモード電圧がある場合でも、高い周波数の差動信号を正確に測定できる唯一の測定システムです。
    ファクト・シート
    IsoVu™ Gen 2 — 確度、感度、接続性、使いやすさの向上
    IsoVuは優れた電気的絶縁、ガルバニック絶縁を実現し、大きなコモンモード電圧がある場合でも、高い周波数で低電圧の差動信号を正確に分離することを可能にする、業界初の測定ソリューションです。第二世代IsoVu(IsoVu Gen 2)は、第一世代(初代)のIsoVuに比べて以下のような技術的特性が向上しています。 • 第一世代のIsoVuの20%のサイスに小型化され、取扱いが容易 • ゲイン確度が向上し、より優れた確度を実現 • 低ノイズで高感度 • 必要なチップの種類が減り …
    ホワイトペーパー
    パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社様 導入事例
    パナソニックのGaNデバイス開発時間を大幅に短縮、テクトロニクスの光絶縁プローブ技術「IsoVu」が支援
    導入事例
    パナソニックセミコンダクターソリューションズ株式会社様 導入事例
    パナソニックのGaNデバイス開発時間を大幅に短縮、テクトロニクスの光絶縁プローブ技術「IsoVu」が支援
    導入事例
    オシロスコープ・プローブの選び方
    オシロスコープ・プローブを選ぶには? 最適なプローブを選ぶには、まず測定しようとする信号を理解することが必要です。測定するのは電圧なのか、電流なのか、その両方なのか、周波数はどの程度なのか、信号の振幅はどのくらいか、 被測定デバイスのソース・インピーダンスは低いのか、高いのか、差動で測定する必要性はあるのか。これらを理解することで、テクトロニクスが提供している豊富なプローブの中から最適なものを選択することができます。 オシロスコープ・プローブの種類と特徴 テクトロニクスでは …
    製品選択ガイド
    プローブ・セレクション・ガイド
    信号の特性 最適なプローブを選ぶには、まず測定しようとする信号を理解することが必要です。測定するのは電圧なのか、電流なのか、その 両方なのか、周波数はどの程度なのか、信号の振幅はどのくらいか、 被測定デバイスのソース・インピーダンスは低いのか、高いのか、 差動で測定する必要性はあるのか。これらを理解することで、テ クトロニクスが提供している豊富なプローブの中から最適なプロー ビング・ソリューションを選択することができます。
    製品選択ガイド
    How Energy Trends and New Testing Requirements are Improving Power Conversion Efficiency
    The demand for efficient power is accelerating as electrification remains a key driver to reduce carbon emissions. Wide bandgap technologies such as silicon carbide (SiC) and gallium nitride (GaN) are key enablers today to improve power …
    入門書
    Power Efficiency Trends in Industrial and Renewable Applications
    Introduction The demand for efficient power is increasing rapidly as digitization and electrification continue to drive productivity and environmental responsibility, respectively. The shift towards decarbonization is driving a change …
    入門書
    Double Pulse Testing Solution for Wide Bandgap Power Semiconductors
    Ensure precise measurements on wide bandgap devices and systems for faster, easier validation with this comprehensive oscilloscope-based solution consisting of software, probes, instruments, and service. Highlights: On-scope analysis conforming …
    パンフレット
    Every oscilloscope needs a probe poster
    Every oscilloscope needs a probe. To help you choose the right oscilloscope probe for your measurement need this poster provides an overview of probe types, important probing guidance, and key concepts.   
    ポスター
    Recommended Electronics Engineering Benches for Education
    Recommended Education Bench Configurations Start with one of these three configurations to create the bench best suited for your students Fundamental Teaching Lab Prepare …
    テクニカル・ブリーフ
    IsoVu Generation 2 Isolated Probes Flyer
    IsoVu Isolated Probes deliver accurate differential measurements up to ±2500 V on reference voltages slewing ±60 kV at 100 V/ns or faster.  They provide a unique combination of high bandwidth, dynamic range, and best-in-class common mode rejection …
    ファクト・シート
    Making Accurate Measurements with IsoVu TIVH Isolated Measurement Systems
    The Tektronix IsoVu Isolated Measurement System makes great use of the advantages of optical technologies such as high bandwidth, galvanic isolation, and extreme common mode voltage rating.  But, it also inherits the idiosyncrasies and foibles of …
    テクニカル・ブリーフ
    IsoVu® Isolated Probes – Connectivity Options
    IsoVu Isolated Probes – Connectivity Options The best performance from the IsoVu measurement system is achieved when an MMCX connector is inserted close to the test points. MMCX connectors are an industry standard and are available …
    製品選択ガイド
    Accurately Measuring High Speed GaN Transistors
    The increase in switching speed offered by GaN transistors requires good measurement technology, as well as good techniques to capture important details of high-speed waveforms. This application note focuses on how to …
    アプリケーション・ノート
    Isolation Addresses Common Sources of Differential Measurement Error
    A typical measurement system includes an oscilloscope and an oscilloscope probe that provides the connection between the device under test (DUT) and the oscilloscope. Probe selection is critical because probe performance can …
    テクニカル・ブリーフ
    Measuring Vgs on Wide Bandgap Semiconductors
    This application note shows a procedure for achieving accurate measurements of gate-to-source voltage on high-side (ungrounded) FETs using the IsoVu measurement system. 
    アプリケーション・ノート
    $name
    Electronics Engineering For Cleaner Skies
    How Tektronix products have helped the RAISE project take off
    導入事例
  • See what happens to your measurement when you eliminate the effects of ground loops, probe loading, EMI, common mode interference and insufficient bandwidth. This video shows what’s previously …
    期間: 1m 58s
    信号の高速化に伴い部品の極小化も進み、半田付けする際にボードや部品を熱で傷めないように細心の注意を払いながら、正確に信号のプロービングをするのはだんだん至難の業になっています。このビデオではPCIe Gen4(16Gbps)ボードのアダプタについているSSDを例として、正確かつ効率的なプロービング方法をご紹介します。
    期間: 8m 36s
    Watch as we discuss techniques for properly testing Silicon Carbide (SiC) devices.  We'll review considerations for creating a double pulse test setup.  We offer an overview of basic equipment …
    期間: 30:05
    Watch as panelists discuss emerging technologies and the feedback loop between signal integrity and power integrity. See how to combine jitter and power integrity analysis into a formidable tool …
    期間: 35:32
    It’s 2012 and Tektronix was introducing the new high voltage differential probe – but it wasn’t enough. Engineers working on Wide bandgap (SiC and GaN) needed more performance for these impossible …
    期間: 5m 24s
    Double-pulse testing is the standard method for measuring the switching parameters of MOSFETs or IGBT power devices. Historically it has been a time-consuming process. However, the Tektronix …
    期間: 5:17
    Wide Bandgap power devices (SiC and GaN) offer significant benefits and are smaller, faster and more efficient than their silicon counterpart. But they also present several validation challenges …
    期間: 24:07
    Power semiconductor technology advances have exceeded measurement abilities, making it impossible for engineers to efficiently make critical measurements on modern devices while managing costs …
    期間: 0h 26m 26s
    Learn about Tektronix IsoVu® Isolated Probes, which offer better common mode rejection and higher bandwidth for high EMI environments and on new power FETs like SiC and GaN.
    期間: 0h 1m 22s
    There are several connectivity options available for the IsoVu Measurement System. In this video, we show you the best way to implement them on your test board for optimal results.
    期間: 4m 41s
    This video shows what insufficient bandwidth does to your measurement and how, sometimes, what you can’t see can hurt you. We demonstrate the difference the IsoVu Measurement System can make to …
    期間: 0h 2m 27s
    See measurements that were previously impossible in this video, where we take a look at high side and low side VGS measurements on a half bridge switching circuit.
    期間: 4m 40s
    In this video we demonstrate how to use recommended MMCX connectors to create high quality, unplanned test points on your board for testing with the IsoVu Measurement System.
    期間: 6m 23s
    See how you can use TDR (Time Domain Reflectometry) techniques to better understand power integrity issues and more quickly eliminate issues, like ripple, from your system designs.
    期間: 25:29