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1 - 10 ヒット数 54
  • Keithley I-V Curve Tracer
    Products

    カーブ・トレーサ｜I-Vトレーサ・ソフトウェア

    2端子デバイス用カーブ・トレーサの使い慣れたユーザ体験を再現しながら、電流と電圧の両方で特性のトレースが可能。
    Compare models. Request a quote.

    最終更新日： Wednesday, January 17, 2024

  • Keithley Kickstart Main Screen
    Products

    ケースレーKickStartソフトウェア

    複雑なプログラミングなしで、わずか数分で測定を開始できます。ベンチ機器およびテクトニクス・オシロスコープ用機器制御ソフトウェアにより、I-V特性評価などを実施できます。
    Compare models. Request a quote.

    最終更新日： Thursday, January 25, 2024

  • 低コストカーブトレーサでIC検査
    Videos, Webinars and Demos

    低コストカーブトレーサでIC検査

    I-VトレーサはSMUに搭載された機能で、従来のカーブトレーサ同様、ノブによりリアルタイムで印加カーブを調整可能です。ダイオードなどの２端子デバイス評価やIC不具合検査などに最適です。ここではI-Vトレーサを用いたIC不具合検査の事例をご覧いただけます。

    | Date: Wednesday, September 30 2020

  • 低コストカーブトレーサで不良解析
    Videos, Webinars and Demos

    低コストカーブトレーサで不良解析

    カーブトレーサについて大型、高価、修理不可などのお悩みはありませんか？ケースレーのI-Vトレーサではこれをすべて解決。従来同様に操作可能、電圧電流印加、パルス／ACモードも対応。２端子デバイスの不良解析に最適です

    | Date: Thursday, March 23 2023

  • 漏れ電流（リーク電流）測定方法｜高電圧半導体デバイス
    Technical Document

    漏れ電流（リーク電流）測定方法｜高電圧半導体デバイス

    ソース・メジャー・ユニット（SMU）と KickStartソフトウェアを使用した高電圧半導体デバイスのブレークダウンと漏れ電流測定 はじめに 長年の研究と開発により、シリコンカーバイド（SiC）と窒化ガリウム （GaN）系パワーデバイスは、より現実的な選択肢になりつつあります。SiCとGaNへのシフトは、新しいデザインを可能にしています。SiC はハイパワー・アプリケーション向けに高電圧で高電力を駆動する能力を備え、GaNは中低電力アプリケーション向けに超高電力密度を備えており …

    Date: Wednesday, December 13 2023

  • 漏れ電流（リーク電流）測定方法｜高電圧半導体デバイス
    Technical Document

    漏れ電流（リーク電流）測定方法｜高電圧半導体デバイス

    ケースレーは、ハイパワー半導体デバイスのテストでは、長い歴史と多くのノウハウを持っております。最近、2470型1100Vグラフィカル・ソースメータを発売し、SiC及びGaNデバイス・テストにおける困難な測定に対応します。このアプリケーションノートでは、2470型ソースメータ及びKickStartソフトウェアを使用した、高電圧半導体デバイス試験のためのアプリケーションをご紹介します。

    1KW-61601-0 | Date: Tuesday, August 20 2019

  • MOSFETとMOSCAPデバイスの特性評価でよくある質問 Top10
    Technical Document

    MOSFETとMOSCAPデバイスの特性評価でよくある質問 Top10

    ※PDF版には日本語化された図表が掲載されております。ぜひダウンロードしてご確認ください。 半導体特性評価の課題 エンジニア、研究者は、常に新しい半導体技術、プロセスの開発、または既存技術の改善を求められています。次世代スマートフォンの低電力フロント・エンドの設計、または高効率太陽電池パネルの新素材調査の場合でも、優れた確度、効率で電気測定できる計測器や測定技術が必要になります。 このeガイドでは、半導体測定、特にI-V（電流－電圧）とC-V（容量－電圧）測定に関する一般的な質問に答えます …

    Date: Tuesday, June 27 2017

  • TSO820 JA JP 85Z 61589 00
    Datasheet

    8シリーズ・サンプリング・オシロスコープ

    85Z-61589-00 | Date: Wednesday, January 06 2021

  • 3 PHASE Power Analysis JA JP 61Z 61728 0
    Datasheet

    三相パワー解析

    4 シリーズMSO はアナログ・チャンネルを最大6 チャンネル利用できるため、三相パワー測定に最適です。この三相解析オプション（4-3PHASE）を使用することで、4 シリーズMSO は、三相総電力、高調波歪み、位相パラメータなど、主要な三相電力系測定に必要な計算をセットアップし、実行することができます。解析パッケージは、柔軟な測定値のトレンド・プロットや自動レポート生成機能を備えているため、設計の検証に最適です。パワー・コンバータでは、多くの場合、パルス幅変調（PWM）が使用されており …

    61Z-61728-0 | Date: Wednesday, February 17 2021

  • 5 PWR JA JP 61Z 61271 10
    Datasheet

    拡張パワー測定／解析

    4/5/6 シリーズMSO の拡張パワー測定／解析機能があれば、パワー・システムをより詳細に解析できます。高性能オシ ロスコープと優れた解析ソフトウェア、豊富な電圧／電流 プローブを組み合わせることで、誰にでも簡単にパワー・ システムの正確な自動測定が行えます。オシロスコープに は、12 ビットA/D コンバータが搭載されており、高精度の 測定データを利用できます。さらに、ピンチ／スワイプ／ ズームに対応したタッチ・インタフェースを活用しながら 効率的に測定できます …

    61Z-61271-10 | Date: Wednesday, February 24 2021