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Gewährleisten Sie sichere, präzise und schnelle Si-, SiC- und GaN-MOSFET-Tests in Labor- und Wafer-Test-Umgebungen. Erfahren Sie mehr über die Herausforderungen beim Testen, die bei der Übernahme von SiC und GaN in Ihre Designs entstehen, und darüber, wie diese zu bewältigen sind. Erfahren Sie, wie Sie die Leistungsaufnahme minimieren und die Batterielebensdauer für Ihre Endprodukte maximieren können. Beschleunigen Sie die Markteinführungszeit für Ihre Designs.
Charakterisierung der Stromversorgung
- Sichere, präzise und schnelle MOSFET-Tests für Si-, SiC- und GaN-Bausteine
- Große Leistungshüllkurve
- Richten Sie Ihre Prüfung sicher ein
- Profitieren Sie von einer zweimal schnelleren Bauteilcharakterisierung für schnellere Markteinführungszeiten
- Vermeiden Sie kostenintensive Überdimensionierungen Ihrer Wide Bandgap Hableiter
Automatisierter parametrischer Test
- Vollautomatische Hochspannungstests auf Wafer-Ebene
- Wechseln Sie von Hochspannung zu Niederspannung, ohne das Setup verändern zu müssen
- Kapazitätsmessung ohne manuelle Neukonfiguration, schnelle Automatisierung
Schnellere Produkteinführung für Ihre Leistungsumwandlungsdesigns
- Bewältigung hoher Gleichtaktspannungen
- Gleichzeitige Messung mehrerer Steuerungs- und Timing-Signale
- Schnellere automatisierte Leistungsmessungen
- Lückenlose Einhaltung von Vorschriften
Maximieren der Akku-Lebensdauer von IoT-Geräten
- Bestimmen des Laststromprofils
- Simulieren beliebiger Batterien
- Modellierung beliebiger Akkuarten
Weitere Anwendungen im Bereich der Leistungs- und Energieeffizienz: