嵌入式系统 在线研讨会
泰克示波器，信号发生器和逻辑分析仪可以加快您的获取到您的嵌入式系统的验证，如内存领域的设计挑战的根源，供电评价，串行总线解码和FPGA系统进行高效调试的发展。
了解如何与这些混合信号测量网络研讨会.
- MSO70000系列混合信号示波器 -- 在系统级察看高性能设计，轻松应对信号完整性测试挑战 (中)
在演讲中我们会结合应用案例，介绍怎样使用MSO工具解决信号完整性问题，如存储器总线设计(DDR)、HDMI和DisplayPort串行总线调试、SDR RF检验等，同时我们的专家会亲自动手操作仪器，为大家做精彩的演示。 - 优化控制参数的嵌入式设计技术网上研讨会(英文字幕)
在本教程中，我们考察了优化控制功能的过程，因为即使是微控制器固件很小的调整，也可以明显改善嵌入式系统性能。获得正确的增益、偏置、延迟、粘滞值和 PWM参数可能要耗费大量的时间，如果使用的工具得当，则可以加快这一过程。借助混合信号示波器，特别是拥有深存储器的示波器，您可以高效查看这一流程的每个细节，包括传感器信号、反馈信号和固件定时。 - 多种解决方案迎接嵌入式系统设计挑战网上研讨会(英文字幕)
在本教程中，我们考察了改善嵌入式系统验证和调试效率的多种方式。第一部分重点改善早期设计周期的工作效率，第二部分重点介绍实验室中可以利用的节约时间、改善效率的技巧。 - 元器件和子系统选型网上研讨会 (英文字幕)
放心地、迅速简便地选择适当的元器件和子系统，对可靠地提供更小、更经济的解决方案至关重要。看看泰克直观的测试测量工具可以怎样帮助您迅速做出明智选择。 - 开发经济的通信系统网上研讨会 (含英文字幕)
最终用户面临着便携能力限制、延长电池工作时间、降低价格成本等严峻的挑战，这一切使得找到经济可靠的通信方式变得更加关键。 - 泰克DDR2/3最新测试解决方案
DDR2/3目前正在逐渐渗透到计算机行业，通讯行业和消费电子行业的各个领域，随着DDR产品的更新换代和速度的提升，DDR测试给产品开发和测试工程师带来越来越多的困难和挑战。 - 泰克应对下一代高速串行设计挑战技术讲座
当前第二代和第三代的高速串行数据标准如PCIE gen2（5G）、SATA gen3（6G）、XAUI gen2（6.25G），其数据速率已经达到5G或者更高。这样的高速信号在物理信道中传输时衰减非常严重，甚至造成信号眼图的闭合。如何才能保证接收端还能正确的接收到信号，这给设计人员带来了严重的挑战... - 简化DDR调试和验证测试
在本次研讨会中，针对各种速度的DDR SDRAM数据、命令和信号完整性测试，我们将向您介绍来自泰克的强大的、完善的解决方案。包括针对DDR信号路径检定和电路板检验的采样示波器方案；针对DDR模拟电气特征调试自动测试软件方案...... - 简化高速串行数据调试验证和一致性测试
种类繁多的高速信号如何去测试，成了越来越棘手的事情。加之目前业内高速信号分析、测试工具过于专业，学习掌握的台阶过高，导致很难发挥功效。Tektronix依托业内最先进的示波器平台DPO/DSA70000，最新推出的DPOJET抖动和眼图分析工具很好的解决这个矛盾。测试涵盖广泛、测试精度高，同时易于学习，自动化程度高。…… - 简化FPGA测试及调试
您是否希望有一种方法，可以移值到所有FPGA设计中，能够洞察FPGA内部运行和系统运行过程，为确定和分析棘手的问题提供相应的处理能力？本次研讨会对FPGA测试及调试的技术构成和发展趋势进行了阐述。对如何简化FPGA测试及调试进行了深入分析与讲解，并通过实际案例对使用更简便，…… - 泰克公司新一代电源系统分析与测试方案网络研讨会
随着市场竞争的加剧，用户对开关电源的效率、性能及成本提出了更高的要求，这使得开关电源的设计更加复杂，对于电源工程师来说，在设计过程中需要应对无数电源性能分析及测试难题，本讲座将介绍泰克DPO4000如何帮助工程师来解决这些难题，帮助电源工程师设计出具有高效率、高性能、高可靠性且低成本的开关电源。 - 使用荧光示波器调试和验证电路的技巧
本次研讨会将对示波器--调试和验证这两大功能进行详细阐述：在调试方面，按照工程师进行调试的步骤，即“发现问题——定位问题——分析问题”，结合数字荧光示波器的特点，讲解如何提高调试的效率；在验证方面，结合信号保真度、采样率和存储深度以及分析套件等对测试的影响，介绍如何选择合适的工具完成电路验证。 - 抖动分析网络研讨会
泰克公司为模拟/数字混合信号测试带来了全新的解决方案。此次将对嵌入式系统设计的技术构成和发展趋势进行阐述；对嵌入式系统的混合信号调试进行深入讲解，如模拟和数字关联性测试、串行数据和并行数据同步数据解码、多逻辑家族系统分析等。通过实例对嵌入式系统除错进行展开分析，如对毛刺来源的查找、硬件/软件故障的确定及多条总线随机故障的排除等。
