在线技术研讨会中心 (视频)
泰克不间断的举行了一系列在线技术研讨会, 在这里, 您可以在任何时间任何地点, 点选您感兴趣的视频, 借助在线技术研讨会视频, 帮助您解决您的问题，将能够提供解决方案的设计。
- 串行数据
- 嵌入式系统
- RF 测试
- 视频测试
观看研讨会课程 (中文)
MSO70000系列高速混合信号示波器
在演讲中我们会结合应用案例，介绍怎样使用MSO工具解决信号完整性问题，如存储器总线设计(DDR)、HDMI和DisplayPort串行总线调试、SDR RF检验等，同时我们的专家会亲自动手操作仪器，为大家做精彩的演示。泰克DDR2/3最新测试解决方案
DDR2/3目前正在逐渐渗透到计算机行业，通讯行业和消费电子行业的各个领域，随着DDR产品的更新换代和速度的提升，DDR测试给产品开发和测试工程师带来越来越多的困难和挑战。应对下一代高速串行设计挑战技术讲座
当前第二代和第三代的高速串行数据标准如PCIE gen2 (5G)、SATA gen3(6G)、XAUI gen2 (6.25G)，其数据速率已经达到5G或者更高。这样的高速信号在物理信道中传输时衰减非常严重，甚至造成信号眼图的闭合。如何才能保证接收端还能正确的接收到信号，这给设计人员带来了严重的挑战...宽带信号的模拟和测试解决方案
宽带信号带来了许多挑战性的测试和测量问题，需要专用的仪器生成和分析超宽带信号。泰克提供了AWG7000B任意波形产生器，能够生成UWB信号、附加损伤和宽带干扰，支持宽带信号的设计和生产......串行数据网络分析
当前的高速系统设计要求比以往更多地关注细节。时域反射计(TDR)为评估传输线上的阻抗值和变化提供了一条方便的途径。在1Gbps及更高速度下，还必需评估使用S参数的互连的频域性能。通过使用IConnect软件，可以轻松高效地完成这一任务......简化DisplayPort调试验证和一致性测试
为了使您的产品满足VSEA最新的测试规范，加快DisplayPort产品的上市，泰克公司对DisplayPort的发射机（Source）、接收机（Sink）和电缆（Cable）提供了可靠、灵活、高效的全面一致性测试验证方案。在本次研讨会中，您将看到如何全面实现和自动执行DisplayPort物理层发射机一致性测试规范中指定的测试......简化高速串行数据调试验证和一致性测试
目前业内高速信号分析、测试工具过于专业，学习掌握的台阶过高，导致很难发挥功效。Tektronix依托业内最先进的示波器平台DPO/DSA70000，最新推出的DPOJET抖动和眼图分析工具很好的解决这个矛盾。测试涵盖广泛、测试精度高，同时易于学习，自动化程度高......- 查看更串行数据研讨会 (中文)
在线研讨会 (英文)
- Raising Oscilloscope Signal Integrity to a New High Webinar
View this webinar and learn about the common sources of error found in digitizers today and how these sources of error affect your measurements. - Making Very Low Jitter Measurements Video
Jit Lim demonstrates how to use the DSA70000B Series performance oscilloscopes to make Rj measurements to less than 300fs for high-speed serial applications - Analyzing Jitter Root Cause Video
Jit Lim demonstrates how to use the DSA70000B Series performance oscilloscopes to analyze the root cause of jitter by analyzing the jitter spectrum and correlating the maximum jitter component to the specific occurrence - Connecting To Your Device Under Test Video
Jit Lim shows a suite of probes and fixtures that facilitate connection to single-ended and differential signals, and technologies like Ethernet and USB. - Physical Layer Validation of Storage Systems
With many advances in storage technology, it is even more critical to stay connected with the updated transfer methodologies. In this webinar you'll learn about the most recent Compliance Test Specification revisions by the SATA I/O and Serial Attached SCSI organizations. See how these latest tests are performed on Tektronix instrumentation using automated compliance software. - View More »
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多种解决方案迎接嵌入式系统设计挑战网上研讨会(英文字幕)
智能嵌入式系统是当前汽车设计中新的推动力量。每秒做出数千个决策的各种复杂嵌入式设备的采用，使最新的安全和效率技术成为可能。不管是设计简单的后视镜调节系统，还是设计混合动力装置的监控系统，都离不开嵌入式系统技术......高效触发、调试和开发低速串行总线网上研讨会 (英文字幕)
本教程为您提供了重要信息，使您能够了解日益流行的串行总线及其要求的新的调试和分析方法。我们会重点考察四种低速串行总线：I2C、SPI、CAN和LIN。泰克最新调试方案，为汽车电子设计提供源动力
智能嵌入式系统是当前汽车设计中新的推动力量。每秒做出数千个决策的各种复杂嵌入式设备的采用，使最新的安全和效率技术成为可能。不管是设计简单的后视镜调节系统，还是设计混合动力装置的监控系统，都离不开嵌入式系统技术......MSO2000示波器, 带来简单经济的嵌入式调试方案
当前的工程师和技术人员正面临着日益复杂关键的调试任务。新型数字设计给设计人员带来了新的问题：串行总线上的系统集成问题，瞬变，信号畸变，总线争用问题等等加速嵌入式设计混合信号调试
您是否在嵌入式设计的混合信号调试中受到困扰？无法准确触发感兴趣的事件？无法同时观看整个波形和事件细节？100MHz带宽能够足够用，但同时需要串行总线触发解码，如I2C、SPI、CAN、LIN、RS232/422/485/UART？简化FPGA测试及调试
本次研讨会对FPGA测试及调试的技术构成和发展趋势进行了阐述。对如何简化FPGA测试及调试进行了深入分析与讲解，并通过实际案例对使用更简便......新一代电源系统分析与测试方案
随着市场竞争的加剧，用户对开关电源的效率、性能及成本提出了更高的要求，这使得开关电源的设计更加复杂，对于电源工程师来说，在设计过程中需要应对无数电源性能分析及测试难题，本讲座将介绍泰克DPO4000如何帮助工程师来解决这些难题，帮助电源工程师设计出具有高效率、高性能、高可靠性且低成本的开关电源。混合信号测试方案网络研讨会
-你是否还在学习使用复杂难用的逻辑分析仪进行数据调试？-您是否受到模拟域和数字域时间相关性的困扰？- 您是否面临着多种逻辑家族并存的挑战?- 查看更嵌入式系统研讨会 (中文)
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- Raising Oscilloscope Signal Integrity to a New High Webinar
View this webinar and learn about the common sources of error found in digitizers today and how these sources of error affect your measurements. - Making Very Low Jitter Measurements Video
Jit Lim demonstrates how to use the DSA70000B Series performance oscilloscopes to make Rj measurements to less than 300fs for high-speed serial applications - Analyzing Long Records of Acquired Data Video
Jit Lim demonstrates how to use the DSA70000B Series performance oscilloscopes to capture, analyze, and find errors within long records of information found in SSC (Spread Spectrum Clocking), VCO Start-up Characterization, and Power Supply Modulation Analysis. - Analyzing Jitter Root Cause Video
Jit Lim demonstrates how to use the DSA70000B Series performance oscilloscopes to analyze the root cause of jitter by analyzing the jitter spectrum and correlating the maximum jitter component to the specific occurrence - View More »
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如何使用实时频谱分析仪进行EMI（电磁干扰）诊断
在本次“如何使用实时频谱分析仪进行EMI（电磁干扰）诊断” 中，泰克公司将为您介绍： 1.有关 EMC（电磁兼容性）的传统观点及传统方法的局限性；2. 今天的主要 EMI 测量挑战是什么？3. EMC 滤波器和检波器定义及作用 4.应对重大 EMI 挑战的突破性解...如何运用SignalVu™软件配合宽带数字示波器来应对宽带信号分析的挑战
在测试测量中，验证宽带和超宽带系统设计、及分析超宽带信号是工程师所面对的最严峻的挑战，尤其在现代雷达和通信领域......如何应对RFID 的测试挑战
RFID信号具备脉冲性、跳频 、ASK 或 FSK调制、及多种编码方式的特点，而随着RFID的日益发展，如何方便和有效的测试正变得越来越显著和重要，这给传统的测试方法和测试仪器带来了新的挑战...实时分析技术和测量给无线通信带来的好处
在当今无线通信中，各种时变和瞬变信号越来越多的被采用，泰克独有的实时频谱技术随之受到前所未有的关注。实时频谱仪已经从通常概念的频谱测试仪发展成为含盖多种应用领域的实时信号分析仪......- 查看所有射频测试研讨会 (中文)
在线研讨会 (英文)
- Radar Testing Simplified Webinar
Learn about the latest advanced measurements for chirped radar, hopped radar and very wideband radars. Duration: 28 minutes Speaker: Darren McCarthy, Tektronix RF Technical Marketing Manager - Spectrum Management Overview Webinar
In our new webinar on RF spectrum management, we discuss real-time spectrum analysis tools, and how they have become the game-changer in spectrum management. Duration: 32 minutes. - Greening of Wireless Webinar
Mesuro and Tektronix introduce a new open loop active load pull technique for the design of complex, highly efficient power amplifiers, necessary for reducing the power consumption of tomorrow’s mobile infrastructure. The method utilizing microwave sampling scope technology to simultaneously capture waveform data ranging from DC to several tens of GHz is demonstrated. - Fundamentals of Radar Measurements Webinar
This seminar focuses on the Automatic Measurement - theory of operation - using Tektronix signal analysis and generation tools. This presentation starts with an overview of common tools used for the testing of radars and important measurement parameters impacting measurement results. It then focuses on the Theory of Operation for the Automatic Pulse Measurements that are available on the latest Tektronix Oscilloscopes and Spectrum Analyzer products. In conclusion it discusses the challenges and solutions for Signal Generation. - View More »
