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PCI Express®

PCI Express 2.0一致性标准要求双端口采集和100万单位间隔分析。泰克综合解决方案提供了全采样率(full sample rate)和深内存(deep memory)来保证符合相关标准,以及功能丰富的工具集来解决具有挑战性的信号完整性问题。

信号发生器取样示波器补充了我们的发射机、互连和接收机测试综合解决方案。

在线技术研讨会

  • 第二代PCI-Express技术演化及一致性测试发展网上研讨会 (中)

    PCI-Express是第三代的I/O架构,为不断增长的I/O带宽需求提供了点到点、高速的、少的连接引脚。同时,这种新的互连技术会对一致性设计和测试带来新的挑战。第二代的PCI-Express的数据传........
  • 泰克应对下一代高速串行设计挑战技术讲座 (中)

    当前第二代和第三代的高速串行数据标准如PCIE gen2(5G)、SATA gen3(6G)、XAUI gen2(6.25G),其数据速率已经达到5G或者更高。这样的高速信号在物理信道中传输时衰减非常严重,甚至造成信号眼图的闭合。如何才能保证接收端还能正确的接收到信号,这给设计人员带来了严重的挑战...
  • 简化高速串行数据调试验证和一致性测试(中)

    种类繁多的高速信号如何去测试,成了越来越棘手的事情。加之目前业内高速信号分析、测试工具过于专业,学习掌握的台阶过高,导致很难发挥功效。DPOJET抖动和眼图分析工具很好的解决这个矛盾。测试涵盖广泛、测试精度高,同时易于学习,自动化程度高。……
  • 简单经济的嵌入式调试方案 (中)

    当前的工程师和技术人员正面临着日益复杂关键的调试任务。新型数字设计给设计人员带来了新的问题:串行总线上的系统集成问题,瞬变,信号畸变,总线争用问题等等…
  • 加速嵌入式设计混合信号调试 (中)

    您是否在嵌入式设计的混合信号调试中受到困扰?无法准确触发感兴趣的事件?无法同时观看整个波形和事件细节?100MHz带宽能够足够用,但同时需要串行总线触发解码,如I2C、SPI、CAN、LIN、RS232/422/485/UART?......
  • 串行数据测试在线技术研讨会 (英)

    这些在线技术研讨会将涵盖串行数据基础内容,包括时钟恢复、抖动分析和一致性测试。其他高级主题包括接收机测试和均衡。
  • 查看全部英文研讨会
    查看所有中文研讨会

应用文章

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