时域反射计（TDR）和S参数测量
自动完成测试，简化执行，加快对最具挑战性的系统设计的评估。
随着速度的不断提高和电压的降低，提高串行数据信号性能的容限越来越小。为了确保很好地了解这些容限，有一点非常关键，那就是需要了解与您的互连系统相关的容限损耗的大小。要更好地了解您的互连设计的性能，那么时域反射计（TDR）和S参数测量必不可少。泰克简单易用的集成工具结合了泰克DSA8200采样示波器的超高速数据采集功能（用于捕获关键的TDR Edge）和自动化设置及校准程序，使您可以高效地对电缆、连接器及背板进行测量。
在线技术研讨会
简化高速串行数据调试验证和一致性测试 (中)
种类繁多的高速信号如何去测试，成了越来越棘手的事情。加之目前业内高速信号分析、测试工具过于专业，学习掌握的台阶过高，导致很难发挥功效。Tektronix依托业内最先进的示波器平台DPO/DSA70000，最新推出的DPOJET抖动和眼图分析工具很好的解决这个矛盾。测试涵盖广泛、测试精度高，同时易于学习，自动化程度高。……抖动分析网络研讨会 (中)
将对嵌入式系统设计的技术构成和发展趋势进行阐述；对嵌入式系统的混合信号调试进行深入讲解，如模拟和数字关联性测试、串行数据和并行数据同步数据解码、多逻辑家族系统分析等。通过实例对嵌入式系统除错进行展开分析，如对毛刺来源的查找、硬件/软件故障的确定及多条总线随机故障的排除等。下一代高速串行测试 (中)
在当今的电子产品研发过程中，各种日新月异的高速数据传输接口层出不穷。能否在产品中高效率、高质量的应用这些技术，并在最短的时间内推向市场，成为各家芯片、电子设备以及系统集成商所关心的问题...应对串行数据S参数测量和一致性测试挑战 (英)
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应用文章
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从测量中进行千兆位背板建模
本应用注释介绍进行千兆位背板建模的完整方法。 -
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在如今的高运行频率下，影响信号的上升时间、脉冲宽度、定时、抖动或噪声内容的任何事件都会波及系统可靠性。测量串扰，帮助完成PCB质量验证的时域方法
本应用注释讨论串扰的要素及如何利用采样示波器在单层PCB上进行测量。- 查看全部
