DDR/存储器
不管您是需要快速检测DDR存储器，隔离并分析突发读/写操作还是调试协议违反错误，全面、集成的泰克DDR存储器解决方案都可以提供帮助，使您有效地验证并改进自己的设计。
不断缩小的封装尺寸和类型也带来了巨大的存取挑战。泰克的探测和夹具解决方案可以简化DDR测试，同时最大限度地减轻系统负载。
在线技术研讨会
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泰克DDR2/3最新测试解决方案 (中)
DDR2/3目前正在逐渐渗透到计算机行业，通讯行业和消费电子行业的各个领域，随着DDR产品的更新换代和速度的提升，DDR测试给产品开发和测试工程师带来越来越多的困难和挑战。 -
简化DDR调试和验证测试(中)
在本次研讨会中，针对各种速度的DDR SDRAM数据、命令和信号完整性测试，我们将向您介绍来自泰克的强大的、完善的解决方案。包括针对DDR信号路径检定和电路板检验的采样示波器方案；针对DDR模拟电气特征调试自动测试软件方案...... 调试和验证DDR及DDR2存储器，确保可靠的系统运行 (英)
PCI Express 2.0验证为验证和调试硅元件及集成了PCI Express器件的系统带来了新的挑战。检查命令和数据信令及信号完整性的方法对于DDR2/3 SDRAM设计的是否成功变得越来越重要。本次在线技术研讨会将介绍可用于数字验证、PCI Express及存储系统调试的最新工具和方法。- 查看全部
应用文章
DDR 存储技术产品资料 (中)
泰克为SDRAM、存储控制器、高级存储缓冲器、DIMM、计算机主板和速度高达DDR3-1600甚至更高的嵌入式系统提供了一种功能强大而全面的测试仪器。DDR内存一致性资料页 (英)
本DDR内存一致性测试资料页列举了DDR内存验证的主要内容以及建议的泰克解决方案。SDRAM存储系统：嵌入式测试及测量挑战(中)
本DDR存储器基础指南简要描述了DRAM概念，介绍了将来的DRAM发展趋势及如何通过验证来实现存储器设计改进。存储器、DDR2、DDR3、GDDR3及FBDIMM的电气验证(中)
随着DDR SDRAM时钟频率和Signal Edge Rate的不断提高，信号完整性验证方法对于DDR存储器设计的成功与否变得越来越重要。本应用注释重点介绍如何触发和隔离读/写信号，以及DDR2、DDR3、GDDR3 SDRAM和FB-DIMM的各种信号完整性测量方法。DDR存储器、DDR2和DDR3 SDRAM的命令及协议验证(中)
电脑内存不是继续要求容量更大、速度更快、能耗更低而且体积更小的存储介质的唯一系统。嵌入式系统应用也有着同样的要求。本应用注释重点介绍了逻辑分析仪在验证DDR存储器命令和协议方面的强大功能。高速互连 – 基于检测和测量的建模
互连性能已成为确保DDR存储器及整个系统可靠运行的一个关键要素。本基础指南介绍对互连链路的每个部分进行精确的测量，确定最佳互连模式的挑战及解决方案。- 查看全部
