分析
節省時間，減少錯誤
我們經常必須驗證波形時序是否符合業界標準，或是相對於設計目標或技術規格的符合性。此時我們的目標是快速、準確而穩定一致。沒有人希望花太多時間進行這些量測，但也必須在量測的穩定一致性和準確性之間取得平衡。
現在有了這些邏輯分析儀，您可以使用游標和差值標記的組合進行這些量測，雖然在必須進行一連串最小值、最大值和平均脈衝寬度等量測時，確實令人感到繁瑣無趣。此外，若有任何工作必須手動進行，就永遠會有不確定性和量測誤差提高的潛在機會。
Tektronix TLA5000B 提供拖放量測作為標準功能，藉此去除這種不確定性、降低量測誤差，並且自動進行量測。您只要將圖示從量測工具列上，拖曳到有興趣的訊號上放開，就能得到結果表格。諸如此類的功能使得邏輯分析儀的日常使用變得簡單、快速又精確。
著重於應用的解決方案
FPGA:在搭配 First Silicon Solutions (FS2) 使用下，Tektronix 邏輯分析儀是唯一能夠同時為 Altera 和 Xilinx FPGA 執行即時除錯的分析儀。使用 FS2 的 FPGAView，您就可輕鬆快速地量測 FPGA 設計內部的訊號，並選擇不同的內部訊號進行偵測，而無須重新編譯其設計。
如果您擁有正確的邏輯分析儀，為 FPGA 設計進行除錯的工作就能更加輕鬆。只要選擇支援 FPGA 設計即時除錯的邏輯分析儀，您就再也不用面對使用 FPGA 的內部邏輯分析儀，或是配置您的 FPGA 使其與獨立分析儀共同運作的困難選擇。
記憶體: 為了趕上更複雜且更短的設計週期，記憶體設計師需要各種不同的測試設備，以查驗其設計。若您查看的是阻抗和軌跡長度，您會使用到取樣示波器。若您查看的是電子訊號，從功率到訊號強度到時脈、抖動等等，您會使用到數位螢光示波器。若您查看的是命令和通訊協定，接下來您會使用邏輯分析儀驗證您記憶體系統的操作。
Tektronix 可支援記憶體設計師，將透過領先業界的觸發、擷取和分析功能組合，而加快除錯與驗證程序的協力廠商支援套件，與 TLA 邏輯分析儀一起搭配使用。
訊號完整性: 進行數位訊號完整度問題的疑難排除時，特別是在擁有許多匯流排、輸入和輸出的複雜系統中，邏輯分析儀是首道防線。由於這是真正的數位儀器，因此邏輯分析儀可在其監控的訊號上偵測臨界值交叉，然後顯示邏輯 IC 看到的邏輯訊號。產生的時序波形既清晰容易了解，且能夠方便地與預期的資料互相比較，以確認工作正確進行。這些時序波形通常是導致訊號完整性受損之訊號問題的搜尋起點。
這項分析能發揮多大的用處，端視整個邏輯分析解決方案而定。在反組譯程式和處理器支援套件的協助下，Tektronix 邏輯分析儀可以使用很低的硬體活動量，與即時軟體軌跡建立關聯 (與原始碼有關)。
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