串列資料應用的發射器測試
隨著今日設計中訊號速度的增加,找出緊密的振幅和時序邊際,是您開發計劃成敗的關鍵。
Tektronix 示波器 的發射器測試,具備業界最佳訊號完整性和最低的基準雜訊,可提供您量測準確度,讓您更具信心進行重要的上升時間、抖動和雜訊量測。
量測解決方案如抖動和眼狀圖分析工具、去嵌入和等化軟體,可分析最具挑戰性的系統設計。
網路研討會
串列資料測試網路研討會
這些研討會將涵蓋串列資料基礎知識,包括時脈還原、抖動分析與相容性測試。其他的進階主題包括接收器測試與等化。閉合眼狀圖的案例
為您解答加強、等化及如何讓眼狀圖保持開啟等問題。總抖動的定義
在本教材中,我們將為您一次釐清位元錯誤率峰對峰抖動與總抖動間的差異。我們也將說明如何在示波器上估算 TJ (BER)。所有名詞縮寫:RJ、DJ、DDJ、ISI、DCD、PJ、SJ
在本教材中,我們將為您分析不同的抖動元件 (各有其縮寫字),說明如何診斷抖動問題。我們也將檢視有哪些為獨立元件,以及這些元件在規格中的角色。
應用摘要
串列資料相容性與驗證量測的基礎入門
本入門手冊旨在協助您瞭解串列資料傳輸的常見面相,並說明這些新興串列技術適用的類比與數位量測需求。瞭解及分析時序抖動的特性
對於使用電壓轉換來呈現時序資訊的所有電氣系統,時序抖動是不受歡迎的伴隨現象。本文主要說明電氣系統中的抖動。時脈還原簡介:高速串列設計的測試與量測重要面相
時脈還原入門手冊,說明高速串列資料速率加倍與三倍化。如何將 Tektronix 高性能示波器發揮的淋漓盡致?
瞭解重要的訊號擷取與您示波器的可用性功能,以更快獲得結果。使用 80SJNB 先進軟體進行等化及串列資料連結分析 (SDLA) 的方法
本應用摘要說明易損耗/分散通道上執行的串列資料標準,所使用的測試與量測方法,這類通道使接收器的眼圖閉合,通道中使用等化 (FFE/DFE) 方法來打開眼圖。- 全部檢視
