串列 ATA
若要達到成功的磁碟機儲存系統設計，Serial ATA (SATA) 互通性是關鍵所在。SATA Gen 2 所需的相容性測試數目超過 150 個。使用 TekExpress 加速 SATA interop 相容性測試的設定與量測報告，TekExpress 是單鍵解決方案，適用於 PHY 測試自動化與裝置狀態控制。使用新一代 SATA 6 Gb/sec 標準時，透過 DSA70000B 系列示波器，運用第五諧波進行精確的特性分析；提供您精確眼狀圖分析所必需的振幅與時序邊際。
網路研討會
串列資料測試網路研討會
這些研討會將涵蓋串列資料基礎知識，包括時脈還原、抖動分析與相容性測試。其他的進階主題包括接收器測試與等化。- 全部檢視
應用摘要
SATA 解決方案規格摘要表
本技術規格摘要表說明 SATA Gen-1、Gen-2、6 Gb/s 與 Tektronix 解決方案的關鍵要素。SATA 相容性規格摘要表
本相容性規格摘要表列出必要的 SATA 相容性要求與建議的 Tektronix 解決方案。串列資料相容性與驗證量測的基礎入門
本入門手冊旨在協助您瞭解串列資料傳輸的常見面相，並說明這些新興串列技術適用的類比與數位量測需求。串列資料中結合數位脈波的類比訊號
新一代 AWG具備快速的數位轉類比轉換器及更快的取樣時脈功能，因此逐漸演變為高速串列匯流排通訊協定 (如 SATA 2 和 PCI-Express) 產生波形的一種方式。- 全部檢視
