電磁干擾 (EMI) / 電磁相容性 (EMC)
為您帶來信心，克服最具挑戰性的微波與 RF 設計。
無論 EM I是預期或非預期，許多類型的 RF 與微波裝置與元件，具有隨時間變化的訊號。若沒有 Tektronix 即時頻譜分析儀提供的獨特深入解析與信心，這些捉摸不定的事件就難以發現、觸發、擷取與分析。
網路研討會
電磁干擾 (EMI) 診斷
在今日複雜的訊號環境中，過去發展的量測方法受到了限制。瞭解如何使用即時頻譜分析 (RTSA) 的新功能，縮短電磁相容性 (EMC) 診斷中的疑難排解時間。- 全部檢視
應用摘要
電磁干擾 (EMI) / 電磁相容性 (EMC) 解決方案規格摘要表
這份簡短的規格摘要表，提供電磁干擾 (EMI) / 電磁相容性 (EMC) 的挑戰與解決方案綜覽。電磁干擾 (EMI) 診斷的即時頻譜分析
本應用摘要檢視了目前指定的偵測與濾波方法，包括電磁干擾 (EMI) 診斷範例。利用 Tektronix 即時頻譜分析儀 (RTSA) 進行相位鎖定迴路的特性分析
本文概述了相位鎖定迴路的運作，包括線性與非線性效應，以及如何使用即時頻譜分析儀，在時域與頻域中量測。使用即時頻譜分析儀，擷取與量測微音效應及相位突變
本應用摘要概述了即時頻譜分析儀的優越功能，並介紹通訊系統中的微音效應與相位突變問題。即時頻譜分析儀中的數位螢光®技術基礎原理
本入門手冊說明 DPX 即時頻譜顯示，以及這項技術如何用來處理涵蓋短暫、間歇性、複雜及同步訊號的情況。- 全部檢視
