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シリアル・データ・アプリケーションのトランスミッタ・テスト

回路の信号スピードが高速になるにつれ、振幅、タイミングの正確なマージン測定は、開発プログラムの成否に大きく影響します。

トランスミッタ・テストで使用するテクトロニクスのオシロスコープは、業界トップクラスの信号忠実度、低ノイズ・フロアにより、重要な立上り時間、ジッタ／ノイズの測定を正確に測定することができます。

ジッタ／アイ解析ツール 、 ディエンベデッド／イコライゼーション・ソフトウェアなどの 測定ソリューション により、難しいシステム設計を解析することかできます。

ウェブ・セミナ

  • シリアル・データ・テスト・ウェブ・セミナ(英文)

    このウェブ・セミナでは、クロック・リカバリ、ジッタ解析、コンプライアンス・テストなど、シリアル・データの基礎について説明しています。また、レシーバ・テストやイコライゼーションについても説明しています。

  • 閉じたアイの対策(英文)

    エンファシス、イコライゼーションについて、またアイ・ダイアグラムのアイをいかに大きくとるかについても説明します。

  • トータル・ジッタについて(英文)

    ピーク・トゥ・ピーク・ジッタとトータル・ジッタの違いについて説明しています。また、オシロスコープでTJ (BER)を推定する方法についても説明しています。

  • RJ、DJ、DDJ、ISI、DCD、PJ、SJなどの略語について(英文)

    さまざまなジッタ成分を解析することでジッタ問題を診断する方法について、またその略語についても説明しています。どの成分が独立していて、どの仕様に使われているかも説明しています。

アプリケーション・ノート