シリアル・データ・アプリケーションのレシーバ・テスト
レシーバ・テストでは、非常に複雑なシリアル・データ信号を簡単に出力できるソリューションが求められています。テクトロニクスは、ストレス信号を含めた優れた信号出力ソリューションを提供しています。
簡単： 8Gbpsまでの信号および障害信号生成を一台の計測器で実現します。
優れた柔軟性：ジッタ・プロファイル、ISI、SSC、アウトオブバンド信号、組込みチャンネル／フィクスチャ効果などを無制限に組み合わせた、非常に複雑な信号を出力できます。
再現性：ファイルベースのソリューションにより、同じ条件でレシーバ・テストを共有したり、再現することができます。
ウェブ・セミナ
高速シリアル・データのレシーバ・テスト(英文)
この入門書は、最新のシリアル規格で高速化される信号の生成課題と、実際のワースト・ケースによるレシーバ・テストについて説明しています。また、ダイレクト・シンセシスによりシリアル・データ・テストが簡単になることについても説明しています。レシーバ・テストにおけるストレス信号について(英文)
ストレス信号を加えることで、回路の弱点があきらかになります。ストレス信号についての理解を深めます。- すべてを見る
アプリケーション・ノート
レシーバ・テスト・ソリューション・アプリケーション・ノート(英文)
レシーバ・テストの概要と測定ソリューションについて説明しています。信号生成と非常に複雑なシリアル・データ信号について(英文)
シリアル・データ・レシーバのテストにおけるアナログ的アプローチ。シリアル・データ・レシーバ・テストにおけるアナログ信号とデジタル・パターン
高速なD/Aコンバータと高速なサンプル・クロックを備えたシグナル・ジェネレータで高速シリアル・バス（SATA、PCI Expressなど）の波形を生成します。ディスク・ドライブ設計のための測定ソリューション
シグナル・ジェネレータ（任意波形ジェネレータ）を使用し、実際の信号を正確にシミュレーションするこでディスク・ドライブ検証を行います。- すべてを見る
