PCI Express®
PCI Express 2.0の適合性検証には、デュアル・ポートによる波形取込みと100万UIの解析が必要になります。テクトロニクスのソリューションは、適合性検証に必要な高速なサンプル・レートとロング・メモリを、また難しいシグナル・インテグリティ問題を解決するための豊富な機能を装備したデバッグ・ツールセットを提供しています。
シグナル・ジェネレータとサンプリング・オシロスコープを使用することで、トランスミッタ、インターコネクト、 ーバ・テスなどの総合的なソリューションとなります。
ウェブ・セミナ
シシリアル・データ・テスト・ウェブ・セミナ(英文)
このウェブ・セミナでは、クロック・リカバリ、ジッタ解析、コンプライアンス・テストなど、シリアル・データの基礎について説明しています。また、レシーバ・テストやイコライゼーションについても説明しています。- すべてを見る
アプリケーション・ノート
PCI Expressソリューション・ファクト・シート
This technoPCI Expressの主な要素とテクトロニクスのソリューションを説明しています。PCI Express測定入門
の入門書では、PCI Express Gen1、Gen2における検証、デバッグ、コンプライアンスだけでなく、基本原理、測定テクニック、確実な設計に必要となるツールについても説明します。シリアル・ロジック解析ツールを使用したPCI Express 2.0のデジタル検証とデバッグ (英文)
このアプリケーション・ノートでは、PCIe 2.0のデバッグ、検証での問題点、新しく追加になったプロトコル、ASPM、さらにシリアルとパラレルを組合せたロジック・アナライザ解析ツールを使用したシステム・レベルでの観測の必要性について説明しています。クロスバス解析による相互関係の理解と迅速なトラブルシューティング(英文)
システム内では、シリアル・バスとパラレル・バスが混在していることはめずらしいことではありません。このようなトレンドにより、異なったさまざまなバスの論理状態を、同時に、簡単に観測できるクロスバス・トラブルシューティング・ソリューションの要求が高まっています。- すべてを見る
