Ethernet
Ethernetの急速な普及に伴い、Ethernetデバイスの物理レイヤの検証、効率の向上が強く求められています。テクトロニクスは、設計問題をすばやく、効果的に解決するため、アナログ検証、コンプライアンス・テスト、デバイスの特性評価のための統合ツールセットを提供しています。
ウェブ・セミナ
シリアル・データ・テスト・ウェブ・セミナ (英文)
このウェブ・セミナでは、クロック・リカバリ、ジッタ解析、コンプライアンス・テストなど、シリアル・データの基礎について説明しています。また、レシーバ・テストやイコライゼーションについても説明しています。- すべてを見る
アプリケーション・ノート
デジタル・ストレージ・オシロスコープを使用したEthernet差動リターン・ロスの測定
リソースの有効的な利用、検証サイクルの短縮を可能にするテストと測定セットアップ、システムの原理について説明しています。100Base-TXの物理層コンプライアンス・テスト
このアプリケーション・ノートでは、マルチレベル信号のテスト時に発生する問題について説明し、オシロスコープに内蔵されているテスト・ソフトウェアが提供するリターン・ロスなどの検証サイクルの短縮、および高い信頼性によって実現される、これまでにない効率の向上について説明します。- すべてを見る
